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CN43l258/TP计算机工程与科学2O12年第34卷第4期
ISSN1OO7—13OXCOMPUTERENGINEERINGSCIENCEVo1.34.NO.4.2O12
文章编号:1007—130X(2012)04—0028—04
一种多芯片封装(MCP)的热仿真设计
ThermalSimulationandDesign
ofaMulti——ChipPackage
王金兰,仝良玉,刘培生,缪小勇
WANGJin—lan,TONGLiang—yu,LIUPei—sheng’,MIAOXiao-yong2
(1.南通大学江苏省专用集成电路设计重点实验室,江苏南通226019;
2.南通富士通微电子股份有限公司,江苏南通226006;
3.中国科学院微电子研究所,北京100029)
(1.JiangsuKeyLaboratoryofASCIDesign,NantongUniversity,Nantong226019;
2.NantongFujistuMicroelectronicsCo.,Ltd.,Nantong226006;
3.InstituteofMicroelectronics,ChineseAcademyofSciences。Beijing100029,China)
摘要:集成电路封装热设计的目的在于尽可能地提高封装的散热能力,确保芯片的正常运行。多芯
片封装(MCP)可以提高封装的芯片密度,提高处理能力。与传统的单芯片封装相比,由于包含多个热源,
多芯片封装的热管理变得更为关键。本文针对一种2维FBGAMCP产品,进行有限元建模仿真,并获得
封装的热性能。通过热阻比较的方式,分析了不同的芯片厚度对封装热性能的影响。针对双芯片封装,通
过对不同的芯片布局进行建模仿真,获得不同的芯片布局对封装热阻的影响。最后通过封装热阻的比较,
对芯片的排列布局进行了优化。分析结果认为芯片厚度对封装热阻的影响并不明显,双芯片在基板中
呈对称排列时封装的热阻最小。
Abstract:ThermaldesignoftheICpackageistoimprovethethermaldissipationabilityofthepack
age.Multichip—package(MCP)isdesignedtoincreasethedensityofintegratedelectronicsandimprove
theprocessingpower.Duetothemulti—heatsourcesinapackage,heatmanagementbecomesmorecriti—
calforMCPs.ThispaperpresentsthefiniteelementssimulationofFBGAMCPproduct.Theeffectof
chipthicknesstothethermalresistanceofthepackageispresented.Throughacomparisonofthether—
realperformances,thechipplacementisoptimized.Thesimulationresultsshowthatchipthicknessdoes
nothaveaprofoundeffecttothethermalresistanceofMCPs,andthesmallestthermalresistanceisob—
tainedwhenthetwochipsaresymmetricallyarrangedinthecenterofthesubstrate.
关键词:多芯片封装;FBGA;热管理;有限元仿真
Keywords:multi—chippackage(MCP);FBGA;thermalmanagement;finiteelementssimulatio
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