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本发明提出一种半导体结构及其制备方法,半导体结构的制备方法包括提供一半导体基底;在半导体基底的部分表面上形成金属层,金属层具有一凸起;在金属层和半导体基底的表面上共形沉积介质层,以在介质层上同步凸起形成一台阶结构;在台阶结构位置处形成研磨阻挡块;对介质层进行第一平坦化处理,以减薄研磨阻挡块两侧的介质层;湿法清洗去除研磨阻挡块;对介质层进行第二平坦化处理。在金属层有台阶结构的情况下,本发明可保证介质层的高度满足制程工艺,并提高介质层的产品良率。
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号CN117855037A
(43)申请公布日2024.04.09
(21)申请号202410257075.1
(22)申请日2024.03.07
(71)申请人合肥晶合集成电路股份有限公司
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