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文件类型:
作业指导书
主题:
SMD成品检验规范
文件编号
发行日期
PAGE
PAGE1ofNUMPAGES4
REV
A/2
制造部
品管部
技术部
制订
1.目的
为公司生产之成品提供检验依据,确保产品质量,特制定本规范。
2.范围
本规范适用于SMD成品检验作业。
3抽样标准
按MIL-STD-105E普通II级检验水准(AQL:CR=0.065,MA=0.4,MI=0.65)
其中:CR代表致命缺陷;MA代表主要缺陷;MI代表次要缺陷。
4.作业内容
4.1电性检验:
检验项目
不良说明
检验仪器
缺陷分类
Open(死灯)
开路或短路造成材料缺亮.
分光机
CR
VF
VF大于或小于设定值0.05V以上.
分光机
MA
IR
单电极类VR=5V时IR>10μA,双电极类IR5μA.
分光机
CR
晶片混料
同批产品存在两种以上发光颜色的晶片.
测试机/目视
CR
等级不符
分BIN材料,BIN级与实际检测等级亮度相差超过10%以上,VF超过±0.1V以上,波长与实标检测波长超过±1nm以上.
测试机/目视
MA
角度偏移
角度偏移50o(包括50o)以内产品±5o以上,50o以上产品±10%以上.
测试机/目视
MA
白光偏色
针对分光颜色问题,同一级原则上测试时以色坐标的±0.005为合格(上下不超出一个设定等级区);如不能判定的情况下以目视不出现明显的颜色差别为合格,或以客户样品为依据.
目视
MA
左右角度偏移
整個角度左右偏移(从零度算,左边和右边相比不能相差10゜以上,测试时注意灯是否与测试座XY轴在同一条线上).如右图:
MA
中心点偏移
产品测试时光强最亮点应与零点对比±5°内为合格.
测试机/目视
MI
4.2外观检验
4.2.1判断基准:以目视距离25~30cm,停留被检物5~8秒为原则。
4.2.2检验内容:
检验项目
合格限度说明
缺陷分类
合格图示
不合格图示
胶裂
凡产品胶体出现裂纹均为致命缺陷.
CR
多胶
胶体下部多胶与正常相比最大不超过0.15mm.
MI
少胶
杯内胶高不能低于支架胶体0.15mm.
MI
汽泡
杯内气泡少于1/3晶片面积;不可遮盖晶片表面或覆在金线附近周围的.
CR
胶体染色
凡产品胶体出现明显变色的均为致命缺陷
CR
支架亮银
支架镀银层不可为反光强烈的亮银。
MA
检验项目
合格限度说明
缺陷分类
合格图示
不合格图示
杂物/污点
距成品25~30cm目视,主发光区不可有污点/杂物明显,在次发光区污点/杂物≤0.2mm(8mil)非发光区≤0.4mm(16mil)
MA
胶面褶皱
不可有胶面褶皱
CR
胶面雾气
用肉眼能清楚的看见晶片的四个角。
CR
表面划伤
胶体表面划痕小于10MIL
MA
杯体掉墨
用肉眼看得不明显
MI
PIN脚不良
PIN脚不可有氧化,缺损.
CR
检验项目
合格限度说明
缺陷分类
合格图示
不合格图示
底部沾胶
成品底部PIN脚不可有沾胶不良。
MA
溢胶
溢胶不可导致成品尺寸不符。
MA
混料
同批材料里不可混有不同型号/规格之产品.
CR
产品型号不符
成品规格不可与所要求型号规格不符.
CR
4.3其它检验
检验项目
不良说明
检验仪器
缺陷分类
数量不符
产品数量与记录不符为不合格(超出±千分之三).
点数
MA
资料不全
流程单与装箱记录不齐全为不合格.
目视
MA
包装不符
包装方式与制造规格或BOM表不符为不合格.
目视
CR
可焊性
用铬铁进行无铅焊接(取10PCS),确认可焊性是否符合要求.
无铅铬铁
MA
其它
检验时发现其它会影响产品质量的缺陷经技术部、品管部和制造部检讨会审后方可列入其中.
5.附件
5.1《LEDTOP成品检验报告》。
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