GBT-集成电路 电磁发射测量 第1部分 通用条件和定义.pdfVIP

GBT-集成电路 电磁发射测量 第1部分 通用条件和定义.pdf

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ICS31.200

CCSL56

中华人民共和国国家标准

GB/T××××.1-××××/IEC61967-1:2018

集成电路电磁发射测量第1部分:通用

条件和定义

Integratedcircuits-Measurementofelectromagneticemissions-Part1:General

conditionsanddefinitions

(IEC61967-1:2018,IDT)

(征求意见稿)

20XX-XX-XX发布XXXX-XX-XX实施

GB/TXXXXX.1-XXXX/IEC61967-1:2018

目次

前言II

1范围1

2规范性引用文件1

3术语和定义1

4试验条件4

4.1概述4

4.2环境条件4

5试验设备5

5.1概述5

5.2屏蔽5

5.3RF测量仪器5

5.4频率范围6

5.5前置放大器或衰减器6

5.6系统增益6

5.7其他部件6

6试验布置6

6.1概述6

6.2试验电路板6

6.3IC引脚负载6

6.4电源要求—试验板电源7

6.5IC的特殊考虑7

7试验程序7

7.1环境RF噪声检查7

7.2运行检查8

7.3具体程序8

8试验报告8

8.1概述8

8.2环境RF噪声8

8.3器件的描述8

8.4布置的描述8

8.5软件的描述8

8.6数据表示8

8.7RF发射限值8

8.8结果说明8

附录A(资料性)试验方法比较错误!未定义书签。

附录B(资料性)计数器试验编码的流程图11

附录C(资料性)一种最差情况应用软件的描述12

附录D(资料性)通用基础试验板的描述13

参考文献16

I

GB/TXXXX.1-XXXX/IEC61967-1:2018

前言

本文件按照GB/T1.1-2020《标准化工作导则第1部分:标准化文件的结构和起草规则》的规定起

草。

本文件是GB/TXXXXX《集成电路电磁发射测量》的第1部分。GB/TXXXXX已经发布了以下部分:

——第2部分:辐射发射测量TEM小室和宽带TEM小室法;

——第3部分:辐射发射测量表面扫描法;

——第4部分:传导发射测量1Ω/150Ω直接耦合法;

——第5部分:传导发射测量工作台法拉第笼法;

——第6部分:传导发射测量磁场探头法;

——第8部分:辐射抗扰度测量IC带状线法。

本文件等同采用IEC61967-1:2018《集成电路电磁发射测量第1部分:通用条件和定义》。

请注意本文件的某些内容可能涉及专利。本文件的发布机构不承担识别专利的责任。

本文件由中华人民共和国工业和信息化部提出。

本文件由全国半导体器件标准化技术委员会(SAC/TC78)归口。

本文件起草单位:

本文件主要起草人:

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