测光模式分析和总结.docx

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测光模式

仅有测光元件的准确性、敏感性以及安放位置,还不足以保证测光的准确性。在一幅画面中,各部分光线是千变万化的,而且极不均匀。通常,自然界中光线的明暗分布,若以阴暗部分为基准,明亮部分的光线强度约为它的200倍,所以采用不同的测光方式和测量的区域不同,对测光结果的影响是很大的。

TTL测光方式有三种基本类型:分区式测光、点测光和加权平均测光。由于照相机市场竞争激烈,每个照相机生产厂家都会宣传自己的测光系统如何地好,但各种名目繁多的测光方式均可归纳成上述三种基本类型。

测光时,镜头的光圈位置也有所区别,可分成两类:

1、收缩光圈测光:即将光圈收缩至实际使用值处进行测光。这种方式在早期相机中较常见。但由于收缩光圈后使取景视场变暗、影响聚焦精度等缺点,现在已经很少使用了,在AF单反机中就没有这种类型的测光系统;

2、全开光圈测光:无论选用何种光圈值,测光时均使镜头光圈处于最大孔径处,使取景视场始终处于明亮的状态。但要求镜头上具有传递光圈信息到机身的机构。AF单反机中全部是全开光圈测光的。

一、平均测光

这种方式现已很少采用,但在某些单反机上仍有使用,如苏联产的泽尼特(Zenith)12XP。

测光元件(多为Cds)通常位于取景器的五棱镜上方,感光部分朝下面对聚焦屏。其视场被动地读取聚焦屏上影像的不同亮度,并加以平均。听起来是很理想的,当聚焦屏上影像的亮度和色调分布均匀时,的确是不错的。

如果被摄画面阴暗处占大部分,而被摄主体在较明亮处。若按平均测光方式的测光值进行曝光,得到的将是一张被摄主体曝光过度的照片;相反,若被摄画面以高光为主,则有可能得到一张主体曝光不足的照片。所以平均测光方式很快被其他测光方式所代替。

二、点测光和多点测光

点测光方式不是对整个画面,而是对画面中央一个很小的区域进行测光,区域的大小一般为总画面的2%左右,该区域与整个画面相比,可近似地看成是一个点,因而得名。点测光方式的感光元件一般是装在反光镜箱底部,主反光镜的中央部分是半透明的(透明部分的大小决定了点测光区域的大小,在聚焦屏上会印有该区域大小的图案)。在主反光镜背后另外多加了一个小型的反光镜(副反光镜)。

图1:点测光灵敏度分布图

透过镜头的光线,经过主反光镜的半透明部分透射到背后的副反光镜上,副反光镜再将光线反射到测光元件上进行测光。这种方式的特点是测光准确,但较难使用,测光的正确与否与摄影者的经验很有关系。如果测量的区域不是画面的主体,整张照片的曝光就不一定准确,对整个画面的曝光影响很大。一般的使用方法是,若要使某一部分曝光准确,就应对该部分进行测光。点测光方式较受专业人士的喜欢,尤其适合于艺术人像、静物等摄影。

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点测光又称重点测光、中央测光等。

多点测光方式由点测光方式发展而来,即点测光方式加上记忆装置。拍摄时使被摄体中不同的部位,先后位于取景视场中心进行点测光,照相机内的电子线路将每次的结果记忆下来,并按各点的平均值进行曝光。例如奥林巴斯OM-4Ti,每次对画面的2%测光,可连续记忆八个测光点的读数,并计算出平均值,这样可以兼顾画面中各部分的曝光。

实际使用中,很少有人将所允许的八点测光测足,最多测三、四次就够用了。多点测光适合于拍摄风景、人像等静止不动的物体,不适合于拍摄动体。因此多点测光虽然精度高,但其实用性远不如分区式测光方式。

三、中央重点加权平均测光

尼康公司在测光系统上实现了突破,首创了这种测光方式。这一方式是平均测光与点测光方式的折衷形式。测光元件装在五棱镜后方(取景目镜上方),聚焦屏上的影像通过一只小透镜将画面的中央部分投影到感光元件上,测光读数以画面中央部分的亮度为主,即对中央部分的亮度最为敏感。中央区域可以比较宽,但一定要将边缘部分排除在外,这就是“中央重点”的含义,这种做法是符合一般摄影规律的,通常照片的“兴趣点”是位于画面的中央部分。

那什么是加权平均呢?这是一个数学概念:

例如有两个数值A和B,则数值(A+B)/2则是这两个值的平均值;

如果另外有两个正的系数α和β,满足条件α+β=1;则数值(α*A+β*B)称为数A和B的加权平均值,α和β分别称为A和B的加权系数。

如果把A看作中央部分的测光值、B为边缘部分的测光值,而且α大于β,那么(α*A+β*B)就是中央重点加权平均值了。

实际上,边缘部分的加权系数并不是一成不变的,而是像一个山坡一样,逐渐向外减少。越是靠近边缘,加权系数越小;加权系统越大,灵敏度也就越高。

中央重点加权平均测光方式的中央加权系数比较大,所以中央部分的测光值对最终测光值的影响较大。这种测光方式能同时兼顾被摄主体和四周景物的亮度,因此对被摄主体的测光

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