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《点源透过率杂散光测试规范》编制说明

一、标准制定的必要性

杂光是指到达光学系统像面非成像光线，在探测器上形成背景噪声。杂光的存在会降低图像的对比度、清晰度，严重时目标图像会被杂散辐射噪声湮没，导致光学仪器无法正常工作。近年来，随着光学技术以及光电探测器件技术的高速发展，高分辨率、多光谱、低探测阈值的遥感系统在航空领域的应用越来

越广泛，对光机系统杂散光抑制的水平及测试验证提出了更高的要求。

现有国家标准《GB/T10988-2009光学系统杂(散)光测量方法》规定了光学和电子光学成像系统杂光系数(VGI)和杂光分布函数(GSF)的测量方法及结果表达方式。杂光系数(VGI)定义为：在均匀亮度的扩展视场中放置一个黑斑，经被测样品成像后，其像面中心区域上的光照度与移去黑斑放上白斑后在像面上同一处的光照度之比。该方法适用于光机系统工作环境为均匀亮背景，如地面摄影系统、照相镜头等。受限于扩展光源尺寸，杂光系数测试法测试口径受限，并且测试精度一般≥10-3。杂光分布函数(GSF)定义为由小的物光源在像面上的杂光照度与小光源轴上光源像的总通量之比。该方法适合于工作环境杂光主要来自小光源的光机系统，如空间遥感相机，星敏感器等，其杂光主要来自太阳、

月亮、星星等。

但在实际工程应用中，相干从业人员几乎不采用杂光分布函数GSF评价光机系统杂光特性，主要原因有两个：首先光学系统杂光特性表现的是光学系统对入射杂光的抑制能力(抑制比)，而杂光分布函数(GSF)是杂光照度与轴上点源像的总辐射能量之比，不能直观地体现出射对入射的抑制比。其次杂光分布函数(GSF)单位为m-2，非无量纲，其值与待测光学系统的口径相关，不适合于产品间的杂光特性相互比较。现行标准不通用，导致在杂光测试系统性能评价方

面，各家没有统一标准，不利于我国杂光测试技术的发展。

目前国际上公认的评价光机系统的杂光抑制能力最常用的评价函数是点源透过率(PST)，点源透过率法(PST)定义为视场外离轴角θ的点源目标辐射，经待测光机系统后在探测器上产生的辐照度Ed与待测光机系统入口处的辐照度Ein之比。点源透过率测试光机系统适用范围广、测试精度高，已经成为高精度杂光

测试发展的趋势，因此需要编写团体标准，指明点源透过率杂散光测试规范，

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为杂光测试技术创新活动树立了明确目标和行为参照系，促进杂光测试技术的

推广与协同共享。。

二、标准编制原则及依据

1、按照GB/T1.1－2020《标准化工作导则第1部分：标准化文件的结构和

起草规则》要求进行编写。

2、参照相关法律、法规和规定，在编制过程中着重考虑了科学性、适用性和

可操作性。

三、项目背景及工作情况

（一）任务来源

根据《中国国际科技促进会标准化工作委员会团体标准管理办法》的有关规定，经中国国际科技促进会标准化工作委员会及相关专家技术审核，批准

《点源透过率杂散光测试规范》团体标准制定计划，计划编号为：CI2023554。

本标准由中国科学院西安光学精密机械研究所提出，中国国际科技促进会归口。

根据计划要求，本标准完成时限为6个月。

（二）标准起草单位

本标准的主要起草单位是中国科学院西安光学精密机械研究所，负责标准文档起草及相关文件的编制等。航天科技集团五院五〇二所、上海航天技术研究院第八〇三研究所、北京航空航天大学、中国科学院长春光学精密机械与物理研究所、北京理工大学、中国科学院上海技术物理研究所、中国科学院安徽光学精密机械研究所、中国科学院光电技术研究所参与起草，负责标准中重要技术

点的研究和建议，并参与标准内容的讨论。

（三）标准研制过程及相关工作计划

1、前期准备工作

项目立项前，标准编制小组查阅、研读相关国内外文献，广泛搜集点源透过率杂散光测试相关的材料。同时，多次与光机结构设计、加工、装调相关行业人员进

行调研、交流，广泛征求标准制定方面的意见和建议。

2、标准起草过程

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2023年12月18日由中国国际科技促进会标准化工作委员会向国家标准委全国标

准服务平台立交立项，立项编号为：CI2023554，并向全社会公示了十五日。

2024年1月20日由中国科学院西安光学精密机械研究所在西安组织了第一次起草会议，谈论了标准的适用范围、规范性引用文件、术语和定义、符号、测量原理，

确定了分工和编制工作的各项任务完成时间节点。

2024年2月20日组织了第二次起草会议，确定下了标准、试验条件、待测光机系

统以及测试步骤草案。

2024年4月30日将标准草案提交中国国际科技促进标准化工作委员会，通过审核，

（3日后）于5月20日报送了全国标准平台，并向全社会公开征求意见30日。

3、征求意见情况

2024年4月标准编制小组先后通过现场会议