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本申请公开一种测试光耦的设备及方法,光耦的副边包括上管和下管;设备包括:电容和控制器;电容的电压为预设电压;控制器控制电容连接上管,将上管在截止状态的截止电压与第一参考值进行比较,判断上管的截止状态是否正常;控制电容从预设电压开始向上管放电,将上管在导通状态的压降与第二参考值进行比较,判断上管的导通状态是否正常;还用于控制电容与下管接通,将下管在截止状态的截止电压与第三参考值进行比较,判断下管的截止状态是否正常;控制电容从预设电压开始向下管放电,将下管在导通状态的压降与第四参考值进行比较,判断下
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号CN113625145A
(43)申请公布日2021.11.09
(21)申请号202110924303.2
(22)申请日2021.08.12
(71)申请人合肥恒钧检测技术有限公司
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