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一种基于X射线图像的带壳核桃内部干瘪程度检测方法.pdfVIP

一种基于X射线图像的带壳核桃内部干瘪程度检测方法.pdf

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    本发明公开了一种基于X射线图像的带壳核桃内部干瘪程度检测方法，涉及核桃无损检测技术领域。本发明对YoloV5n模型进行改进，以形成专用于核桃检测的算法。本发明通过采用X射线检测装置和相应算法，避免了核仁在破壳后破碎、异味和营养流失等问题，有望提升核桃产业的分选加工效率。本发明具备一定的创新性和商业前景，为行业提供了一种先进的、高效的分选方法，有望为生产者和加工企业带来显著的经济效益。同时，本发明使得分级后核桃在后续处理上更有针对性和高效性，为不同干瘪程度核桃所对应的副产品的供应增添了便捷性，在核

    (19)国家知识产权局

    (12)发明专利申请

    (10)申请公布号CN118096658A

    (43)申请公布日2024.05.28

    (21)申请号202410097111.2G06V10/82(2022.01)

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