KEYENCE基恩士视觉系统 成功应用案例20.pdf

扩EYENCE

基态十

视帝系统成功应用案例

半导体/电子零件

1晶片的四槽位置检测

四用途概要四传统方法和采用优点

通过影像系统进行晶片的目槽的旋转定位。我们之前通过200万像素CCD应用伤痕检查模式进行检测，

但是一直不能提高检测位置精度。通过CV-X系列的500万像

素CCD和TrendEdge缺陷模式，现在我们可以稳定的高精度

的检测出凹槽的四陷部的重心。

四检测的重点

通过检测偏离TrendEdge缺陷模式的基准自由曲线最远的点的

算法，即使晶片位置相对于检测区域发生变化也能稳定的检测

出中档部。

放大图像

2|太阳能电池基板的外观检测

四用途概要固传统方法和采用优点

进行太阳能电池用的基板的外观检测。我们之前通过200万像素CCD进行检测，但是由于像素清晰

度的问题不能检测微小的缺陷。通过CV-X系列的500万像素

CCD,，则可以稳定的检测出比以往更微小的缺陷。

加检测的重点

通过CV-X系列的500万像素CCD的超高清晰度以及新检查算

法、实时浓淡校正处理、TrendEdge缺陷模式等功能，可以更

高精度的更准确的进行检查。

电极印刷断升《放大图像)端面才裂《的大图像)

3IC的引脚端口弯曲检测

四用途概要加传统方法和采用优点

通过影像系统检测IC的引脚端口的弯曲。通过几何演算全部分别算出引脚项端的基准直线到引脚端口的