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本发明涉及数字数据处理技术领域,具体涉及一种用于集中器终端生产的外壳表面缺陷检测方法。方法包括:获取待检测表面目标图像上的各疑似裂纹连通域和各疑似裂纹连通域的边缘曲线;根据获取各疑似裂纹连通域对应的各像素点对,得到各疑似裂纹连通域对应的第一形态指标;根据获取各疑似裂纹连通域的边缘曲线对应的链码集合,得到各疑似裂纹连通域对应的第二形态指标;根据第一形态指标、第二形态指标和各疑似裂纹连通域中像素点的灰度值和梯度值,得到各疑似裂纹连通域的形态表征指标和内部表征指标;根据形态表征指标和内部表征指标,得到
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号CN118096736A
(43)申请公布日2024.05.28
(21)申请号202410486769.2G06T7/60(2017.01)
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