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本发明提供异常数据检测方法及异常数据诊断器、射线测厚仪,异常数据检测方法包括:实时从X射线测厚装置采集检测数据;对检测数据进行异常检测,发现异常检测数据信息;存储异常检测数据信;输出异常检测数据信息;生成诊断报告,诊断报告包括异常检测的详细结果和故障原因分析。本发明自动地从特征数据中识别异常,提高对异常情况的灵敏度和准确性;不需事先假设数据遵循某种特定分布,在多变的实际应用中更加灵活;通过评估数据点被隔离的容易程度识别异常,更加动态适应各种数据模式变化;实现对X射线测厚装置的实时监控和快速故障诊
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号CN118094107A
(43)申请公布日2024.05.28
(21)申请号202410411049.X
(22)申请日2024.04.08
(71)申请人北京华力兴科技发展有限责任公司
地
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