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BGA不良非破坏性分析流程.pdfVIP

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BGA不良分析流程-非破壞性分析流程

不良品BGA重1.BGAPad焊錫性檢驗TestOK1.錫量

新植球2.外觀Popcorn檢驗2.錫球焊接issue

1.有無修護打點1.viahole綠漆覆蓋不良NO

BGA外2.有無外觀偏移PCB板2.爆板更換BGA交叉驗證

觀檢驗3.錫球有無錫墬形狀檢驗3.Pad氧化/污染/尺寸新品

4.外觀Popcorn/形變檢驗

NO

溫度資料1.Reflowprofile220°CTestOK焊錫性issueTestOK原材不良

確認2.BGA耐溫Spec.

3.BGArework溫度

1.短路220°C熱風NO

X-ray檢驗2.錫球大加熱15sec錫球重熔1.其他問題(非BGAissue;

3.偏移出現其他errorcode)

4.異常黑點(外物)NO2.相同errorcode

150°C熱風驗證非焊錫性問題TestOK原材issue

加熱15sec破壞性

實驗

1.X-Ray檢查項目:

1.1Void1.2短路

Void體積需小於焊接錫量體積的25%

1.3Viahole搶錫(錫少):錫球大小不一

2.SAM檢查項目:

DieTopDieAttachS/MtoCuCircuitCutoSubstrate

EMC

Die

SolderResist

Copper

GlassFiber

Copper

SolderResist

1.Delamination;2.PackageCrack

3.DieCrack;4.Void

5.Tilt;

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