TEC-8-双端口存储器实验.ppt

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2024-06-18 发布于广西
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TEC-8-双端口存储器实验.ppt

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北京邮电大学计算机学院实验中心系统结构实验室双端口存储器实验一、实验类别原理性+分析性二、实验目的⑴了解双端口静态存储器IDT7132的工作特性及其使用方法；⑵了解半导体存储器怎样存储和读取数据；⑶了解双端口存储器怎样并行读写；⑷熟悉TEC-8模型计算机中存储器局部的数据通路。TEC-8北京邮电大学计算机学院实验中心系统结构实验室*双端口存储器实验三、实验设备TEC-8实验系统1台TDS1001数字存储示波器1台UT60A数字万用表1块逻辑测试笔〔在TEC-8实验台上〕1支四、实验电路TEC-8北京邮电大学计算机学院实验中心系统结构实验室*TEC-8北京邮电大学计算机学院实验中心系统结构实验室*TEC-8北京邮电大学计算机学院实验中心系统结构实验室*TEC-8北京邮电大学计算机学院实验中心系统结构实验室*双端口存储器实验五、实验任务1．从存储器地址10H开始，通过左端口连续向双端口RAM中写入3个数：85H，60H，38H。在写的过程中，在右端口检测写的数据是否正确。2．从存储器地址10H开始，连续从双端口RAM的左端口和右端口同时读出存储器的内容。TEC-8北京邮电大学计算机学院实验中心系统结构实验室*双端口存储器实验六、实验步骤㈠独立方式1．将存储器模块的外部连线按参考接线，将控制器转换开关拨到独立位置，“独立”灯亮,将编程开关设置为正常位置，将开关DP拨到向上位置。翻开电源。2．系统复位，设置存储器地址，通过左端口写入数据，并通过左、右端口读出检测写入的数据是否正确。TEC-8北京邮电大学计算机学院实验中心系统结构实验室*双端口存储器实验3.参考接线:TEC-8北京邮电大学计算机学院实验中心系统结构实验室*信号SBUSARINCLARMEMWMBUS开关K8K9K10K11K12信号LPCPCINCLIRABUSPCADD开关K13K14K15GNDGND北京邮电大学计算机学院实验中心系统结构实验室