材料分析方法试题及答案西安理工大学.docx

2023 年秋季学期《材料分析测试方法》试卷A

命题教师

卢正欣

系主任审核

考试形式 闭卷

考试类型考试班级

、学位课

材物081~082，材化081~082,材081~084

非学位课考试日期

〔请打A选择〕

考试时

2023年12月21日 2小时间

班 级 姓名 学号 成绩

留意：i?命题时请适当留答题位置。请用深蓝色墨水书写，字、图清楚，书写不出边框。

2.答题演早时不许使用附加纸，试卷反面可用于演早。试卷不得拆开。

一、 填空：〔每题2分，共20分〕

X射线产生的三个根本条件是： 、 、

。

电子显微分析可获得材料的 、 和方面的信息，并且可以将三者结合起来。

X射线衍射的强度主要取决于 因子、 因子、 因子、

因子和 因子。

是衍射的必要条件； 是衍射的充分条件。

电子显微镜的区分本领咼是由于电子波的

和 综合作用的结果。

透射电子显微像的衬度来源于质厚衬度和衍射衬度，其中解释晶体样品， 衬度主要用于解释非晶样品。

，其理论区分本领是由

衬度主要用于

在X射线衍射仪中，假设X射线管固定，当样品转动日角时，X射线探测器应转

动 角：假设样品固定，当X射线管转动日角时，X射线探测器应转动 角。

在透射电镜中，明场〔BF〕像是用束通过光阑成的像。

光阑挡掉 束，只允许

电子探针利用的是高能电子与固体样品作用产生的 信号，依据对信号的色

散方式不同分为 和 。

俄歇电子能谱利用的是

所产生的 信号，通过检测

固体样品作用

该信号的

确定所含元素的外表分析方法。

二、 选择：〔1-8每题2分，9题4分，共20分〕

分析多晶衍射把戏时，假设各衍射线对应的5鬥28比〔X射线衍射〕或R2比〔电子衍

射〕的序列为3:4:8:11:12……,则可确定该物相构造为 。

A、简洁立方 B、体心立方 C、面心立方 D、金刚石立方

立方晶系｛111｝晶面的多重性因子为 。

A、4B、6C、8 D、12

在TEM中进展选区电子衍射操作时，中间镜又起衍射镜作用，这时中间镜的物平面与物镜的 合；选区光阑与物镜的 合。

A、物平面 B、主平面C、后焦面 D、像平面

扫描电镜形貌像的区分率与关。

A、检测信号的类型 B、样品原子序数 C、放大倍数 D、入射束斑直径

1对某立方晶系样品进展TEM分析，在操作矢量g=g时观看到一条直线位错。倾动样品，在g二g2时上述位错的衬度消逝；再次倾动样品，在g二g3时上述位错的衬度仍消逝，那么该位错柏氏矢量b的方向为 。

1

1 2 1 2 ? 3 2 3A、g g B、g g C、g g D、g

1 2 1 2 ? 3 2 3

在以下材料成分器

中, 测试元素的范围最宽

A、俄歇电子能谱B、X射线光电子能谱 C、X射线波谱仪 D、X射线能谱仪

X射线衍射宏观应力测定利用的是衍射线_射线

■转变。

转变；而微观应力测定利用的是衍

于金属与合金中析出相的分析。

A、塑料一级复型 B、碳一级复型 C、塑料—碳二级复型 D、萃取复型

9.依据分析测试内容选择适当的器。(1)材料外表的剩余应力测定 ；

⑵晶界析出相晶体构造分析 ；

晶体的点阵常数准确测定

⑷界面化学成分测定

A、扫描电子显微镜D、透射电子显微镜

B、X射线衍射仪E、X射线应力仪

C、扫描探针显微镜F、电子探针

三、简答：〔每题4分，共20分〕

X射线的本质是什么？

X射线衍射与电子衍射各有何特点

hki倒易矢量g 与正空间晶面hkl的关系是什么?

hki

扫描电子显微镜中二次电子像与背散射电子像的特点和应用有何不同?

高能电子与固体样品作用产生的信号主要有哪些，在材料分析测试中分别有何应用。

四、分析计算：〔1~2每题10分，3题8分，4题12分，合计40分〕

推导布拉格定律。并说明为什么在电子衍射中当电子束平行入射〔即也可以被晶体衍射。

9=0时〕

教务处印制 共8页〔第4页〕

2依据Fhki fe2ri(hxj-kyjlzj) 导出面心立方〔fee〕晶体的消光规律。

j j j式中N为单胞中原子数，f为晶体单胞中第j个原子在〔hkl

j j j

因子，Xj、yj、Zj

为单胞中第j个原子的位置坐标〔XYZ〕

2 2 TiO有金红石、锐钛矿等多种晶型，今用磁控溅射制备出 TiO薄膜，对其进展X射线衍射分析，用CuK 〉线入射获得X射线衍射图如下。

2 2

2Theta

3在SrTiO〔立方晶系，晶