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材料分析方法课后答案

第一章

一、选择题

用来进展晶体构造分析的X射线学分支是〔〕射线透射学；射线衍射学；射线光谱学；D.其它

M层电子回迁到K层后，多余的能量放出的特征X射线称〔〕

Kα；

Kβ；

Kγ；

Lα。

当X射线发生装置是Cu靶，滤波片应选〔〕A．Cu；B.Fe；C.Ni；D.Mo。

当电子把全部能量都转换为X射线时，该X射线波长称〔〕

短波限λ0；

激发限λk；

吸取限；

特征X射线

当X射线将某物质原子的K层电子打出去后，L层电子回迁K层，多余能量将另一个L

层电子打出核外，这整个过程将产生〔〕〔多项选择题〕

光电子；

二次荧光；

俄歇电子；

〔A+C〕二、正误题

随X射线管的电压上升，λ0和λk都随之减小。〔〕

激发限与吸取限是一回事，只是从不同角度看问题。〔〕

经滤波后的X射线是相对的单色光。〔〕

产生特征X射线的前提是原子内层电子被打出核外，原子处于

激发状态。〔〕

选择滤波片只要依据吸取曲线选择材料，而不需要考虑厚度。

〔〕

其次章

一、选择题

有一倒易矢量为*+*+*=*cbag22，与它对应的正空间晶面是

〔〕。

A.〔210〕；

B.〔220〕；

C.〔221〕；

D.〔110〕；。

有一体心立方晶体的晶格常数是，用铁靶Kα〔λKα=〕照耀该晶体能产生〔〕衍射

线。

A.三条；B.四条；C.五条；D.六条。

一束X射线照耀到晶体上能否产生衍射取决于〔〕。A．是否满足布拉格条件；

B．是否衍射强度I≠0；C．A+B；

D．晶体外形。

面心立方晶体〔111〕晶面族的多重性因素是〔〕。A．4；

B．8；C．6；D．12。

二、正误题

1.倒易矢量能唯一地代表对应的正空间晶面。〔〕

射线衍射与光的反射一样，只要满足入射角等于反射角就行。〔〕3.干预晶面与实际晶面的区分在于：干预晶面是虚拟的，指数间

存在公约数n。〔〕

布拉格方程只涉及X射线衍射方向，不能反映衍射强度。〔〕

构造因子F与外形因子G都是晶体构造对衍射强度的影响因素。

〔〕

第三章

三、选择题

最常用的X射线衍射方法是〔〕。

劳厄法；

粉末多法；

周转晶体法；

德拜法。

德拜法中有利于提高测量精度的底片安装方法是〔〕。

正装法；

反装法；

偏装法；

A+B。

德拜法中对试样的要求除了无应力外，粉末粒度应为〔〕。

A.325目；

B.250目；

C.在250-325目之间；

D.任意大小。

测角仪中，探测器的转速与试样的转速关系是〔〕。

A.保持同步1﹕1；

B.2﹕1；

C.1﹕2；

D.1﹕0。

衍射仪法中的试样外形是〔〕。

丝状粉末多晶；

块状粉末多晶；

块状单晶；

任意外形。

四、正误题

大直径德拜相机可以提高衍射线承受区分率，缩短暴光时间。

〔〕

在衍射仪法中，衍射几何包括二个圆。一个是测角仪圆，另一个是辐射源、探测器与试样三者还必需位于同一聚焦圆。〔〕

选择小的承受光栏狭缝宽度，可以提高承受区分率，但会降低承受强度。〔〕

德拜法比衍射仪法测量衍射强度更准确。〔〕

衍射仪法和德拜法一样，对试样粉末的要求是粒度均匀、大小适中，没有应力。〔〕

第四章

五、选择题

测定钢中的奥氏体含量，假设承受定量X射线物相分析，常用方法是〔〕。

外标法；

内标法；

直接比较法；

K值法。

X射线物相定性分析时，假设材料的物相可以查〔〕进展核对。

Hanawalt索引；

Fenk索引；

Davey索引；

A或B。

德拜法中准确测定点阵常数其系统误差来源于〔〕。

相机尺寸误差；

底片伸缩；

试样偏心；

A+B+C。

材料的内应力分为三类，X射线衍射方法可以测定〔〕。

第一类应力〔宏观应力〕；

其次类应力〔微观应力〕；

第三类应力；

A+B+C。

Ψ测量应力，通常取Ψ为〔〕进展测量。

确定的Ψ角；

0-45o之间任意四点；

0o、45o两点；

0o、15o、30o、45o四点。六、正误题

要准确测量点阵常数。必需首先尽量削减系统误差，其次选高角度θ角，最终还要用

直线外推法或柯亨法进展数据处理。〔〕

X射线衍射之所以可以进展物相定性分析，是由于没有两种物相的衍射把戏是完全一样的。〔〕

理论上X射线物相定性分析可以告知我们被测材料中有哪些物相，而定量分析可以告知我们这些物相的含量有多少。〔〕

只要材料中有应力就可以用X射线来检测。〔〕

衍射仪和应力仪是一样的，构造上没有区分。〔〕第五章

七、选择题

假设H-800电镜的最高区分率是，那么这台电镜的有效放大倍数是〔〕。

A.