【英/法语版】国际标准 IEC 61189-2-720:2024 EN-FR Test methods for electrical materials, circuit boards and other interconnection structures and assemblies - Part 2-720: Detection of defects in interconnection structures by measurement of capacitance 电气材料、电路板和其他连.pdf

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IEC61189-2-720:2024EN-FR部分标准介绍和电容测量的应用

IEC61189-2-720标准是一套用于电气材料、电路板和其他接口结构及组件测试的标准，其中包括缺陷检测的方法。在这一部分的第720部分，着重介绍了一种通过测量电容来检测接口结构缺陷的方法。

电容测量是一种电学测量方法，用于测量两个导体之间电势差。在电路板和电子设备中，电容通常用于连接不同的电路部分，以实现信号的传递和转换。当电路板或组件的制造过程中出现缺陷时，这些缺陷可能导致电容值的异常变化，从而产生缺陷信号。

通过使用适当的测量设备和方法，可以对电路板和组件中的电容进行测量，并分析这些信号以检测可能存在的缺陷。这种方法具有很高的灵敏度和准确性，可以检测出微小的缺陷，因此在电子制造和测试领域得到了广泛应用。

需要注意的是，使用电容测量方法进行缺陷检测时，需要选择适当的测量设备和测量方法，并进行适当的校准和验证。还需要考虑环境因素和测试设备的稳定性对结果的影响，以确保测试结果的准确性和可靠性。

总结：IEC61189-2-720标准提供了通过测量电容来检测电路板和其他接口结构中的缺陷的方法。这种方法具有很高的灵敏度和准确性，可以检测出微小的缺陷，因此在电子制造和测试领域得到了广泛应用。在进行电容测量时，需要选择适当的设备和测量方法，并进行适当的校准和验证。