【英/法语版】国际标准 IEC 61967-8:2023 EN-FR 集成电路 - 电磁辐射的测量 - 第8部分: 辐射发射的测量 - IC带状线方法 Integrated circuits - Measurement of electromagnetic emissions - Part 8: Measurement of radiated emissions - IC stripline method.pdf

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IEC61967-8:2023EN-FR整合电路-电磁辐射排放测量-第8部分:辐射排放测量-IC板状法标准内容如下：

IEC61967-8:2023是一个国际电工委员会（IEC）制定的标准，专门针对集成电路的电磁辐射排放测量。这个标准主要关注电子设备在运行过程中产生的电磁辐射，以及如何测量这些辐射。

该标准分为八个部分，每个部分针对不同的集成电路类型和测试方法进行详细描述。Part8:Measurementofradiatedemissions-ICstriplinemethod是其中的一部分，专门用于测量集成电路的辐射排放。

具体来说，IC板状法（Striplinemethod）是一种测量集成电路辐射发射的方法。这种方法主要适用于测量板状集成电路的辐射发射，包括其产生的电磁波的强度和频率分布。

实施该方法时，需要将待测集成电路放置在特定的测试环境中，通常是一个具有良好屏蔽效果的实验室环境。测试设备包括一个或多个天线，用于接收和测量集成电路产生的电磁波。测量结果将用于评估集成电路的电磁辐射性能，以及其在特定应用中的潜在影响。

该标准提供了详细的测试方法和测量过程，包括测试步骤、设备要求、数据分析和报告等。该标准还对测试结果的解释和应用提供了指导，以确保测试结果的准确性和可靠性。

IEC61967-8:2023EN-FR标准提供了关于集成电路辐射排放测量的详细指南，包括IC板状法的应用。通过遵循这些标准，可以确保电子设备的电磁辐射性能得到有效评估和控制，从而保护人类健康和环境安全。