随钻测井技术.pptVIP

随钻电阻率ARC双侧向电阻率GRSPCAL阵列感应相位衰减MLLLLSLLDLLD相位衰减阵列感应120inDENCNLAC当钻井液浸泡时间为4天时，高分辨率阵列感应的深探测电阻率数值明显高于随钻电阻率和深侧向数值，深侧向与随钻电阻率基本一致。当钻井液浸泡时间达到6天后，深侧向数值明显低于高分辨率阵列感应深探测电阻率和随钻电阻率测井的数值，表明双侧向测量信息已经明显受到了钻井液侵入的影响；在岩性非常纯、物性相对较好的储层段，高分辨率阵列感应深探测电阻率数值也稍有降低的趋势，在岩性、物性稍微差一些的储层段，其数值与随钻电阻率基本一致。当储层浸泡时间达到11天后，在物性相对较差的井段，高分辨率阵列感应深探测电阻率、深侧向与随钻电阻率基本一致，在好物性储层段表现为深侧向电阻率数值低于高分辨率阵列感应深探测电阻率，高分辨率阵列感应深探测电阻率数值低于随钻电阻率；不同电阻率测井系列的差异程度比浸泡6天时更为明显。重合不受侵入影响分离受侵入影响MPR（2）相同浸泡时间下随钻电阻率与电缆电阻率测井对比图3.4为歧口凹陷一口重点探井完钻以后进行的划眼随钻电阻率测量和电缆测井的阵列感应测井资料对比图，图中第3道为电缆阵列感应测井道，第4道为斯伦贝谢ARC系列划眼后测量曲线，目的层段泥浆浸泡在20天以上。由图对比可见随钻相位电阻率低于随钻衰减电阻率低于阵列感应M2RX探测深度电阻率，说明只要有侵入存在的情况下，随钻电阻率测井系列同电缆电阻率测井系列一样，受到侵入环境的影响。侵入越深，影响越明显。相位衰减阵列感应120in一般情况下，随钻测井主要应用于大斜度井、水平井以及复杂环境井。下面是电缆测井资料和随钻测井资料在不同井斜情况下进行对比分析。（1）低斜度井在低斜度井和直井中，随钻测井资料和电缆测井资料均能够较好地反映储层性质，两种测井曲线的一致性较好（见图3.9）。不同井斜情况下随钻电阻率与电缆电阻率对比分析相位衰减（2）大斜度、水平井在大斜度、水平井中，双感应测井曲线的变化相对比较简单，深、浅感应曲线比较一致，偶尔可能出现一定正差异。MPR电阻率曲线变化比较复杂，主要体现为以下三种情况：1)2MHz相位曲线与400KHz衰减曲线基本重合（见图3.10），该种情况主要出现在大段泥岩井段或储层电阻率较低（小于10ohm.m），此时双感应测井资料的一致性也很好。2)2MHz相位曲线明显高于400KHz衰减曲线（见图3.11），该种情况主要出现在储层段（砂岩层），此时双感应曲线出现一定的正差异，但差异程度远低于随钻曲线的差异。3）2MHz相位曲线明显低于400KHz衰减曲线（见图3.12），该种情况主要出现在高电阻率储层段（大于10ohm.m），且电阻率越高，差异越大，此时双感应曲线出现一定的正差异，但差异程度低于随钻曲线的差异。1、井径测井响应对比通常LWD的井径曲线值要低于电缆测井的井径曲线值，尤其是在泥质层段，但在一些高渗透层段，由于泥饼的形成可能导致电缆井径曲线值小于随钻井径曲线值。另外，LWD测量“垂直井径VERD”和“水平井径HORD”的垂向分辨率较高。例如，WN1-2井2507~2580米随钻测井的井径曲线反映仅有6米井段出现不大于1英寸的扩径，而常规测井2507~2570米显示普遍扩径近3英寸(见图2.2)。随钻测井与电缆测井资料对比分析随钻测井的体积密度一般比WL密度值高，约高0.04~0.119/mg3，并且准确性好。在井眼光滑处和水层条件下，两者曲线形态基本一致。随钻测井仪用一个与井眼直径大小相同的稳定器来阻止泥浆到达探测器前面，并且在仪器工作良好时，其测量精度主要取决于数据的采集，而在一般条件下井眼影响通常是比较小的(受偏心影响明显)，所以测量精度高，而电缆测井是使用一个活动引向导板系统来阻止泥浆到达探测器的前面，但如果井眼不规则或者井眼扩大，可能会导致测量值偏低。另外，随钻测井的岩性密度Pe值要低于电缆测井所测的Pe值，反映岩性较为准确。LWD密度曲线与电缆测井密度曲线对比分析可知，在砂岩段两者基本一致，但在泥岩段电缆测井受扩径影响，数据严重失真。受到严重影响的还有岩性密度(EPF)曲线，LWD在砂岩段测量值为1.7~1.9，与石英砂岩的理论值(1.81)非常接近，而电缆测井值为2.25~2.8。LWD密度的补偿值()一般为0或很小的正值，这表明LWD密度测量受泥饼及扩径的影响几乎可以忽略不计。2、体积密度(含岩性密度)测井响应