【英语版】国际标准 ISO/TR 14999-1:2005 EN Optics and photonics — Interferometric measurement of optical elements and optical systems — Part 1: Terms, definitions and fundamental relationships 光学和光子学 光学元件和光学系统的干涉测量 第1部分：术语、定义和基本关系.pdf

ISO/TR14999-1:2005光学和光子学—光学元件和光学系统的干涉测量技术—第1部分：术语、定义和基本关系

ISO/TR14999是一个国际标准组织（ISO）发布的用于光学和光子学领域的标准系列。具体来说，ISO/TR14999-1:2005是一个关于干涉测量光学元件和光学系统方面的技术报告。这部分标准主要涉及光学元件和光学系统干涉测量的术语、定义和基本关系。

以下是对ISO/TR14999-1:2005的详细解释：

1.术语：标准中列出了在进行干涉测量时常用的术语，例如光学元件（opticalelements）、光学系统（opticalsystems）、干涉仪（interferometer）等。这些术语为理解和执行干涉测量提供了基础。

2.定义：标准提供了许多重要的定义，例如干涉条纹（interferencepatterns）、干涉深度（interferencedepth）、干涉强度（interferenceintensity）等，这些定义对于理解和分析干涉测量结果至关重要。

3.基本关系：标准中列出了许多基本关系，例如干涉条纹的形状与光学元件的形状、尺寸和相对位置之间的关系，干涉强度的变化与光源特性、干涉仪设置和光学元件性质之间的关系等。这些关系是进行干涉测量的基础。

ISO/TR14999-1:2005提供了干涉测量光学元件和光学系统所需的基本术语、定义和关系，这对于理解和执行这个领域的测量工作非常重要。通过理解和应用这个标准，可以更精确地进行干涉测量，获得更可靠的结果。