【英语版】国际标准 IEC TR 61967-4-1:2005 EN 集成电路 - 电磁辐射测量 - 150 kHz至1 GHz - 第4-1部分：传导辐射的测量 - 1 Omega;/150 Omega;直接耦合方法 - IEC 61967-4应用指南 Integrated circuits - Measurement of electromagnetic emissions, 150 kHz to 1 GHz - Part 4-1: Measurement of conducted em.pdf

IECTR61967-4-1:2005是国际电工委员会（IEC）发布的一个标准，用于测量集成电路的电磁辐射。它提供了测量方法、测量条件、测量设备和测试结果的解释和报告指南。IECTR61967-4-1的主要目的是帮助用户理解和实施IEC61967-4标准中关于电磁辐射测量的部分。

以下是对IECTR61967-4-1:2005ENIntegratedcircuits-Measurementofelectromagneticemissions,150kHzto1GHz-Part4-1:Measurementofconductedemissions-1Omega;/150Omega;directcouplingmethod-ApplicationguidancetoIEC61967-4的详细解释：

1.**测试对象**：IECTR61967-4-1标准适用于测量集成电路上传导出的电磁辐射，频率范围在150kHz至1GHz之间。

2.**测量方法**：标准中详细描述了两种测量方法，一种是直接耦合法，另一种是相对耦合法。这里主要讨论直接耦合法，它使用一个环形网络来直接连接电路到测量设备上，从而能够收集电路中的电磁辐射。这种方法在IEC61967-4标准中称为“Omega;/150Omega;”。

3.**测试环境**：测试应在特定的环境中进行，包括稳定的电源电压、恒定的温度和湿度、无电磁干扰等。

4.**测试设备**：需要使用特定的测试仪器，如频谱分析仪、功率计等，这些设备需要符合IEC的相关规定。

5.**测量步骤**：首先需要清洁和准备测试样品，然后连接测试设备并设置参数，接着进行测试并记录数据，最后对结果进行分析和报告。

6.**结果报告**：报告应包括详细的测试数据、分析结果和结论，以证明电路的电磁辐射是否符合相关标准。

IECTR61967-4-1:2005EN提供了关于测量集成电路电磁辐射的详细指南，包括测试方法、测试设备、测试环境、测量步骤和结果报告等方面。这对于确保电子设备的电磁兼容性非常重要，因为电磁兼容性是现代电子设备能够正常工作的重要前提之一。