【英/法语版】国际标准 IEC TR 62433-2-1:2010 EN-FR EMC IC建模 - 分篇2-1：导发电放的黑色箱子建模理论 EMC IC modelling - Part 2-1: Theory of black box modelling for conducted emission.pdf

IECTR62433-2-1:2010EN-FR“EMCICModelling”-Part2-1:“Blackboxmodellingforconductedemission”是IEC（国际电工委员会）关于电磁兼容性（EMC）的特定主题标准的一部分。这个标准主要关注电子设备在电磁环境中如何工作并与其他设备共存的问题。

在这个标准中，EMCICModelling是关于集成电路（IC）的电磁兼容建模的理论部分。这部分内容主要关注如何对传导发射进行黑箱建模。

黑箱建模是一种建模方法，其中不考虑某些特定硬件的内部细节，而关注其外部表现和如何影响环境。在这里，它特别适用于传导发射的建模，这是一种通过电流或电压传输的电磁辐射。

黑箱建模的主要思想是将电子设备视为一个“黑箱”，其中包含一组输入和输出端口，但对其内部工作原理或具体电路细节没有详细了解。在这种情况下，传导发射可以被视为设备与外部环境之间的电磁交互。

为了进行黑箱建模，需要使用一些特定的数学和工程工具，包括信号处理、电路理论、电磁场理论和数值分析。通过这些方法，可以确定设备在各种电磁环境条件下的行为，并评估其可能对周围设备产生的影响。

IECTR62433-2-1:2010EN-FR“EMCICModelling”-Part2-1:“Blackboxmodellingforconductedemission”标准提供了一种理论框架和方法，用于理解和评估电子设备的电磁兼容性，特别是其传导发射的部分。