X射线衍射分析原理与应用.ppt

X射线衍射分析原理与应用;第一讲X射线衍射根本原理;X射线物理根底;X射线的本质;X射线的本质;X射线在电磁波谱中的位置;X射线的波粒二相性;X射线的产生;X射线管;X射线管;X射线管;X射线管的性能;旋转阳极;X射线谱--------?连续X射线谱;X射线谱--------?特征X射线谱;特征X射线的产生机理;特征X射线的产生机理;当K电子被打出K层时，假设L层电子来填充K空位，那么产生Kα辐射。X射线的能量为电子跃迁前后两能级的能量差，即;特征X射线的命名方法;X射线与物质的相互作用;当X射线通过物质时，物质原子的电子在电磁场的作用下将产生受迫振动，其振动频率与入射X射线的频率相同。

任何带电粒子作受迫振动时将产生交变电磁场，从而向四周辐射电磁波，其频率与带电粒子的振动频率相同。

由于散射线与入射线的波长和频率一致，位相固定，在相同方向上各散射波符合相干条件，故称为相干散射。相干散射是X射线在晶体中产生衍射现象的根底。;X射线的吸收曲线;吸收限的应用---X射线滤波片的选择;滤波片的选择规那么;吸收限的应用--阳极靶材料的选择;1895年伦琴发现X射线后，认为是一种波，但无法证明。

当时晶体学家对晶体构造〔周期性〕也没有得到证明。;X射线衍射可归结为两方面的问题;布拉格定律的推证;布拉格定律的推证;;Bragg定律讨论--〔2〕衍射极限条件;Bragg定律的讨论--〔3〕干预面和干预指数;Bragg定律的讨论--〔3〕干预面和干预指数;布拉格方程应用;X射线的强度;一个原子对X射线的衍射;一个原子对X射线的衍射;原子对X射线的衍射;一个晶胞对X射线的衍射;晶胞中原子对X射线的散射波的合成振幅;结构振幅的计算;结构振幅的计算1、简单点阵;结构振幅的计算2、体心点阵;结构振幅的计算3、面心点阵;三种晶体可能出现衍射的晶面;粉末多晶体的衍射强度;粉末多晶体的衍射强度;〔1〕?结构因子和形状因子;〔2〕角因子－－〔罗仑兹因子〕;角因子;晶粒大小的影响;半高宽B=λ/tcosθ;参与衍射的晶粒数目的影响;衍射线位置对强度测量的影响;〔3〕?多重性因子;〔4〕吸收因子;〔4〕吸收因子;〔5〕?温度因子;粉多晶末法的衍射强度;粉多晶末法的相对强度;衍射强度公式的适用条件;??分强度计算举例;;;第二讲X射线衍射实验方法;X射线衍射方法;照相法;德拜照相法－德拜相机;德拜照相法－德拜相机;德拜照相法－德拜相;德拜照相法－试样制备;德拜相的指数标定;衍射把戏照片的测量与计算;衍射把戏标定;X射线衍射仪法;X射线衍射仪;X射线衍射仪法;测角仪;测角仪;测角仪圆几何关系;测角仪;测角仪;衍射仪中的光路布置;聚焦圆;聚焦圆;探测器与记录系统;正比计数器;闪烁计数器;闪烁计数器;衍射图谱;实验条件选择〔一〕试样;实验条件选择〔一〕试样;实验条件选择〔二〕实验参数选择;实验条件选择〔二〕实验参数选择;实验条件选择〔二〕实验参数选择;实验条件选择〔二〕实验参数选择;实验条件选择〔二〕实验参数选择;;第三讲X射线衍射物相分析原理及方法;;;第四讲XRD-7000S衍射仪的操作;;第五讲XRD-7000S衍射仪附件;薄膜附件;薄膜法光路;薄膜法功能与特点;θ－2θ法与薄膜法分析TiN的深度比较;薄膜測定实例〔ITO薄膜〕;薄膜测定实例〔TiN涂层〕;铜板上金涂层薄膜的测定;用薄膜法测定硬盘;用薄膜法测定硬盘;XRD-7000用高温附件〔HTK-1200〕;HTK-1200高温试样加熱附件;试样加热测定实例〔阿斯匹林〕;应力附件;晶体中应变的种类;X射线衍射法应力测定原理;衍射谱多重输出;应力测定计算结果;第六讲X射线衍射分析的应用;物相分析;;物相分析;X射线物相定性分析原理;X射线物相定性分析原理;X射线物相定性分析;X射线物相定性分析;粉末衍射卡的组成;粉末衍射卡的组成;PCPDFWIN;物相定性分析方法;物相定性分析方法;多相混合物物相定性分析方法;待测相的衍射数据;与待测试样中三强线晶面间距符合较好的物相;4-836卡片Cu的衍射数据;剩余线条与Cu2O的衍射数据;物相分析本卷须知：;物相分析本卷须知：;物相分析本卷须知：;物相分析本卷须知：;物相定量分析方法;物相定量分析方法原理;物相定量分析方法原理;外标法;外标法;外标法;内标法;直接比较法;直接比较法;直接比较法;直接比较法;点阵常数的精确测定;点阵常数的精确测定;影响点阵常数精度的关键因素－sinθ;直线外推法;Ｘ射线衍射把戏所含各种信息;结晶度的测定;结晶度测定实例