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ICS31.200L55
中华人民共和国国家标准
GB/T15879.5—2018/IEC60191-5:1997
代替GB/T15879—1995
半导体器件的机械标准化第5部分:用于集成电路载带自动焊(TAB)的推荐值
Mechanicalstandardizationofsemiconductordevices—Part5:Recommendationsapplyingtotapeautomatedbonding(TAB)ofintegratedcircuits
(IEC60191-5:1997,Mechanicalstandardizationofsemiconductor
devices—Part5:Recommendationsapplyingtointegratedcircuitpackages
usingtapeautomatedbonding(TAB),IDT)
2018-09-17发布2019-04-01实施
国家市场监督管理总局中国国家标准化管理委员会
发布
I
GB/T15879.5—2018/IEC60191-5:1997
目次
前言 Ⅲ
1范围 1
2术语和定义 1
3载带自动焊(TAB)的说明 2
4尺寸要求 2
4.1膜规格 2
4.2对位孔 3
4.3本体尺寸 3
4.4测试焊盘图形 3
4.5外引线图形 3
4.6最大引线数目 4
5变量组合编码 4
6内引线焊接、外引线焊接的要求(ILB和OLB) 4
附录A(资料性附录)TAB封装结构推荐值汇总(超大型) 23
附录B(资料性附录)TAB封装结构推荐值汇总(宽体型) 25
附录C(资料性附录)外引线编号 27
附录D(资料性附录)测试焊盘编号 31
Ⅲ
GB/T15879.5—2018/IEC60191-5:1997
前言
《半导体器件的机械标准化》已经或计划发布如下部分:——第1部分:分立器件封装外形图绘制的一般规则;——第2部分:尺寸;
——第3部分:集成电路封装外形图绘制的一般规则;
——第4部分:半导体器件封装外形的分类和编码体系;
——第5部分:用于集成电路载带自动焊(TAB)的推荐值;
——第6部分:表面安装半导体器件封装外形图绘制的一般规则。本部分为《半导体器件的机械标准化》的第5部分。
本部分使用翻译法等同采用IEC60191-5:1997《半导体器件的机械标准化第5部分:采用载带自动焊(TAB)的集成电路封装推荐值》。
本部分按照GB/T1.1—2009给出的规则起草。
本部分代替GB/T15879—1995《半导体器件的机械标准化第5部分:用于集成电路载带自动焊(TAB)的推荐值》。与GB/T15879—1995相比,主要技术变化如下:
——范围中增加“本部分适用于制造厂供给用户的成品单元,对集成电路(IC)到框架的互连(内引线焊接)没有明确要求”(见第1章);
——删除导孔、内引线焊接、外引线焊接、隔离带、带头、滑动载体、切割、引线成形等术语,增加链齿轮孔、内引线、外引线或者切割的窗口、支撑环、本体尺寸、外引线、对位孔、测试焊盘等术语(见第2章,1995年版的2.2);
载带宽度由“8mm、16mm、19mm、35mm”(见GB/T15879—1995中3.1)改为“35mm、48mm和70mm”(见4.1,1995年版的3.1);
——增加与膜规格相关的尺寸和公差、对位孔、本体尺寸和公差、焊盘图形相关的尺寸和公差、外引线节距相关的尺寸和公差、最大引线数目组合(见第4章);
——增加变量组合编码(见第5章);
——增加内、外引线焊接要求(见第6章);
——增加超大型TAB封装推荐值、宽体型TAB封装推荐值、外引线编号、测试焊盘编号(见本部分附录A、附录B、附录C、附录D)。
本部分作了如下编辑性修改:——修改了标准名称;
——修改了表2表头中的错误,将本体尺寸识别字母从A、B、C、D、F、G、H、J、K,更正为A、B、C、D、E、F、G、H、J、K;
——修改了表5表头中的错误,表5表头中测试焊盘数目全部都是M1,根据膜规格、测试焊盘节距的不同,更正为M
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