SJ∕T 11706-2018 半导体集成电路现场可编程门阵列测试方法.docx

ICS31.200

L55

备案号：

中华人民共和国电子行业标准

SJ/T11706—2018

半导体集成电路

现场可编程门阵列测试方法

Semiconductorintegratedcircuitstestmethodoffieldprogrammablegatearray

2018-02-09发布2018-04-01实施

中华人民共和国工业和信息化部发布

SJ/T11706—2018

目次

前言 IⅡ

1范围 1

2规范性引用文件 1

3术语和定义………………1

…o…

…o…11

SJ/T11706—2018

前言

本标准按照GB/T1.1—2009《标准化工作导则第1部分：标准的结构和编写》给出的规则编写。请注意本文件的某些内容可能涉及专利。本文件的发布机构不承担识别这些专利的责任。

本标准由中华人民共和国工业和信息化部提出。

本标准由全国半导体器件标准化技术委员会集成电路标准化分技术委员会(SAC/TC78/SC2)归口。

本标准起草单位：中国电子技术标准化研究院、上海复旦微电子集团股份有限公司、中国科学院电子技术研究所、中国电子科技集团公司第47研究所、中国电子科技集团公司第58研究所、中国航天科技集团公司第九研究院第772研究所、深圳国微电子有限公司、成都华微电子科技有限公司、复旦大学、成都振芯科技股份有限公司、中国航天科技集团公司。

本标准主要起草人：刘芳、尹航、胡海涛、刘彬、周慧、贾一平、杜海军、陈诚、蒙喜鹏、王佩宁、张路、王健、罗彬。

II

1

SJ/T11706—2018

半导体集成电路现场可编程门阵列测试方法

1范围

本标准规定了SRAM型现场可编程门阵列(FieldProgrammableGateArray,以下简称FPGA)的电参数测试方法。

2规范性引用文件

下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引变件，仅注日期的版本适用于本文件。凡是不注日期的引用交件，其必威体育精装版版木(包括所有的修改单)适用于木文件

GB/T17574—1998半导体器件集成电路第2部分：数字电路

3术语和定义

下列术语和定义适用于本文件。3.1

输入输出单元inputoutputblock

输入输出单元，简称IOB,是FPGA与外要的接部分，用于完成不同电气特生下对输入/输出信号的驱动与四配要求。

3.2

可配置逻辑模块configurablelogicbloek

可配置逻辑模块)简称CLB,是FPGA内的基本逻辑单元，用于实现用户定义的基本逻辑功能。3.3

配置文件coofigurationfile

根据FPGA开发要求编制规定并约束FPGA功能的数据文件，也称位流文件。配置文件一般包括配置数据(用来定义可编程逻辑单元状态的比特位)和配置命令(用来控制设备处理配置数据指令的方式)。

3.4

配置过程configurationprocess

使用一种特定的配置模式将特定的比特流(配置文件)加载到FPGA的过程。特定的配置模式与所配置的FPGA有关。

3.5

外部开关参数externalswitchingparameter

能够从器件引出端直接测量得到的开关参数，例如引脚到引脚的延迟时间。3.6

内部开关参数internalswitchingparameter

不能直接从FPGA引出端直接测试的开关参数，例如引出端到内部节点的延迟时间，或者两个内部节点之间的延迟时间。

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SJ/T11706—2018

4一般要求

4.1标准大气条件

除本标准或适用的相关文件另有规定外，电测试环境温度为253℃,相对湿度为45%～80%,环境气压为86kPa～106kPa。

4.2注意事项

测试期间，应遵循以下注意事项：

a)测试期间，确保FPGA接地良好，且应避免外界干扰对测试准确度的影响；

b)测试期间，施于FPGA的电源电压应在规定值的±1%以内，施于FPGA的其它电参量的准确度应符合FPGA相关文件的规定；

c)FPGA与测试系统连接或断开时，不应超过FPGA的使用极限条件；

d)除另有规定外，FPGA应在额定条件下达到稳定输出后开始测试，测试用设备、仪器等应按该设备、仪器的使用要求进行预热；

e)测试期间，不得带电