SJ_T 11577-2016 SJ_T 11394-2009 半导体发光二极管测试方法应用指南.docxVIP

ICS31.260

L53

备案号：

中华人民共和国电子行业标准

SJ/T11577—2016

SJ/T11394-2009《半导体发光二极管测试方法》应用指南

GuideonSJ/T11394-2009《Measuremethodsofsemiconductorlightemittingdiodes》

2016-01-15发布2016-06-01实施

中华人民共和国工业和信息化部发布

ST/T11577—2016

前言

本标准按照GB/T1.1—2009给出的规则起草。

请注意本标准的某些内容可能涉及专利。本标准的发布机构不承担识别这些专利的责任。本标准由工业和信息化部电子工业标准化研究院归口。

本标准主要起草单位：广州赛西光电标准检测研究院有限公司、杭州浙大三色仪器有限公司、工业

和信息化部电子工业标准化研究院。

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ST/T11577—2016

SJ/T11394-2009《半导体发光二极管测试方法》应用指南

1范围

本标准规定了SJ/T11394—2009《半导体发光二极管测试方法》在实际测量过程中的技术细节。

型设备的验证数据等同，该测量设备可被接受。

4.2测量条件

4.2.1标准测量条件

标准测量条件中的允差范围由被测物的工作条件和测量仪器的测量能力共同确定。在设置工作条件时应根据校准证书修正仪器的读数。

当测量不确定度增大时，可通过缩小标准测量条件的允差范围来满足标准测量条件的要求(参见示例)。

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ST/T11577—2016

示例：标准测量条件中环境温度条件为25℃,允差范围为±1℃。这个允许偏差意味着修正后的温度计读数应在24℃~26℃。一般认为温度测量的扩展不确定度与温度计的校准不确定度相等。如果这个不确定度是士0.2℃(允许偏差),在不确定度评定时实际温度可能位于23.8℃~26.2℃。如果温度计校准不确定度为±0.5℃,那么修正后温度计的读数应在24.3℃~25.7℃这样才能保证实际温度范围与允许偏差一致(23.8℃~26.2℃)。

4.2.2实验房间

环境设置应保证探测器只接收需要被测量的光线。杂散光应该尽可能最小化，如果有显著杂散光，相应的误差应进行修正。

4.2.3环境温度

对于需要依靠热沉或其他热管理方法才能保证正常工作的LED,环境温度T为常温15℃~35℃。对于不需要依靠热沉或其他热管理方法保证正常工作的LED,环境温度Ta为25℃±1℃。

环境温度的测量应在被测物周围进行，一般为1m以内。对于积分球，温度计探头应在积分球内部，安装高度与被测物安装高度相同或相近。

温度测量不应被被测物的直接辐射所影响。因此，温度计探头应进行遮挡以防止直射光到达探头。

室内空调和任何加热器的布置应保证气流和辐射热不直接朝向被测物或温度探头。温度探测器校准不确定度应不大于0.5℃,读数分辨率不大于0.1℃。

4.2.4管壳温度

对于需要依靠热沉或其他热管理方法才能保证正常工作的LED,管壳温度T为25℃或制造厂声称的温度。

对于不需要依靠热沉或其他热管理方法保证正常工作的LED,管壳温度T不作监测。

管壳温度的测量宜使用J型、K型热电偶或者热敏电阻。

需要注意的是，热电偶的安装不宜影响到光输出路径。管壳温度探测器不应影响被测物的热状态，热电偶和被测物的表面应接触良好。

温度探测器校准不确定度应不大于0.5℃,读数分辨率不大于0.1℃。

4.2.5气流

测量应在无对流风状态下进行。

气流允差范围：应不大于0.2m/s,气流的测量应在被测物附近进行。对于分布光度计，应调节被测物运动速度以满足气流的要求。

气流应使用风速计进行测量，风速计校准不确定度应不大于0.05m/s。

4.2.6工作姿态

本指导性标准对被测物工作姿态不作要求。

4.3电学测量条件和测量设备

4.3.1测量电压和电流

本标准仅规定直流工作条件，测量电压和电流允差范围在±0.1%以内。

4.3.2电学测量

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电学测量应采用合适的测量设备，测量设备的电压和电流校准不确定度宜在±0.1%以内。功率的测量可使用合适的测量设备直接测量或通过测量电压和电流计算得出。

4.3.3供电电源

直流供电电源交流分量应不大于0.5%。

4.3.4电磁兼容性

供电电源和附近的任何电学设备不应影响电学和光学测量设备。

4.3.5测量电路

所有引线和连接应牢固并且阻抗足够低。应采用四线制测量