GBT5095.2502-2021 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-2部分：试验25b：衰减（插入损耗）.pdf

ICS31.220.10

L23GB

中华人民共和国国家标准

GB/T5095.2502-2021/IEC60512-25-2:2002

电子设备用机电元件

基本试验规程及测量方法

第25-2部分：试验25b：衰减（插入损耗）

Electromechanicalcomponentsforelectronicequipment一

Basictestingproceduresandmeasuringmethods一

Part25-2:Test25b:Attenuation(insertionloss)

[IEC60512-25-2:2002,ConnectorsforelectronicequipmentTestsand

measurementsPart25-2:Test25b:Attenuation(insertionloss),IDT]

2021-03-09发布2021-10-01实施

国家市场监督管理总局串士

国家标准化管理委员会~llJ

GB/T5095.2502-2021/IEC60512-25-2:2002

目次

前言………………I

1总则－

1.1范围和目的

1.2术语和定义…··

2试验设施··

2.1设备

2.2装置…·

3试验样品…………………2

3.1说明……………·…2

4试验程序…………………2

4.1装置衰减……………3

4.2样品衰减测量…………….3

4.3阻抗分析仪（开路／短路法）………….4

4.4追加测量……………4

4.5时域法………………4

5相关标准应规定的细则……….5

6试验记录文件….5

附录A（规范性附录）装置和设备的示意图……….6

附录B（资料性附录）实用指南…….10

GB/T5095.2502-2021/IEC60512-25-2:2002

目IJ~

GB/T5095《电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法》按试验方法分为若干部分。

GB/T5095的第25部分为信号完整性试验，已经发布或计划发布的部分如下：

第25-1部分：试验25a：串扰比；

第252部分：试验25b：衰减（插入损耗）；

第253部分g试验25c：上升时间衰减；

第25-4部分：试验25d：传输时延；

第25-5部分：试验25巳：回波损超；

一一第256部分：试验2曰：眼图和抖动；

第25干部分：试验25g：阻抗、反射系数和电压驻波比（VSWR);

第25-9部分：信号完整性试验试验25i：外来串扰。

本部分为GB/T5095的第252部分。

本部分按照GB/T1.12009给出的规则起草。

本部分使用翻译法等同采用IEC60512-25-2:2002《