【英语版】国际标准 ISO 20263:2017 EN Microbeam analysis — Analytical electron microscopy — Method for the determination of interface position in the cross-sectional image of the layered materials 微束分析 分析电子显微镜 确定层状材料横截面图像中界面位置的方法.pdf

ISO20263:2017标准是关于微束分析的，具体来说是关于电子显微镜的分析方法。这个标准提供了一种方法，用于确定层状材料层界面在垂直图像中的位置。

我们需要了解微束分析是什么。微束分析通常指的是使用微小束的电子或离子对样品进行成像和分析的技术。这可以用于研究微观结构、化学成分、晶体结构、相组成、缺陷、表面和界面等。

在电子显微镜中，电子束照射到样品上，通过电子散射和透射形成图像。这个图像可以用来观察和分析材料的微观结构。在层状材料中，界面通常是一个重要的特征，因为它定义了材料的不同层之间的连接。

ISO20263:2017标准提供了一种方法来确定层状材料中界面在垂直图像中的位置。这个方法包括以下几个步骤：

1.选择适当的样品制备技术，以确保样品能够正确地提供关于界面的信息。这可能包括切割、研磨、抛光等技术。

2.在电子显微镜中设置适当的参数，包括电子束的强度、分辨率和观察角度等，以最佳地显示界面。

3.使用适当的软件或算法来分析垂直图像，以确定界面在图像中的位置。这可能涉及到图像处理和计算机视觉技术，如图像增强、阈值设定、边缘检测等。

4.根据分析结果，可以获得界面在垂直方向上的位置和相关信息，如层厚度、界面形态等。

ISO20263:2017标准提供了一种方法，用于通过微束分析来确定层状材料中界面在垂直图像中的位置，这对于材料科学、纳米科技、生物医学等领域的研究具有重要的应用价值。