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电子元器件有效贮存期、超期复验及装机前筛选要求

1范围

本要求规定了XXX有限公司型号产品用电气、电子、机电元器件（以下简称元器件）

在规定环境条件下的贮存期限（有效贮存期）及超过有效贮存期的复验方法和条件，并在

装机前应通过筛选试验。

本要求适用于XXX有限公司型号产品用元器件，对于未列入本要求的元器件可参照

与该类元器件有相同或相似特征（如制造工艺、结构特点等）的列入要求准元器件执行。

2规范性引用文件

下列文件中的条款通过本要求的引用而成为本要求的条款。凡是注明日期的的引用文

件，其随后所有的修改单（不包含勘误的内容）或修订版均不适用于本要求，然而，鼓励

根据本要求达成协议的各方面研究是否可使用这些文件必威体育精装版版本。凡是注明日期的引用文

件，其必威体育精装版版本适用于要求。

GJB128A─1997半导体分立器件试验方法

GJB360A─1996电子及电气元件试验方法

GJB548A─1996微电子器件件试验方法和程序

QJ1693─1989电子元器件防静电要求

Q/N446─2008电子元器件有效贮存期和超期复验要求

Q/N465元器件外观检验要求

Q/N466型号产品电子元器件筛选通用规范

3术语和定义

3．1贮存期

元器件从生产完成并在生产厂检验合格后至装机前在一定的环境条件下存放的时间。

贮存期的计算按4.2的规定。

注：本要求中的贮存期，均以月计算。

3．2有效贮存期

一定质量等级的元器件在规定的贮存环境下存放，装机前其批质量能满足要求的期

限。

3．3基本有效贮存期

未考虑元器件质量等级的有效贮存期。

3．4贮存质量等级

根据元器件在制造、检验过程中质量控制严格程度，对元器件贮存后性能的影响而确

定的等级。在本要求中规定了四个贮存质量等级，分别以Q、Q、Q、Q表示。

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3．5贮存期调整系数

根据元器件不同的质量等级和用途，对基本有效贮存期调整的系数。

3．6超期复验

超过有效贮存期的元器件，应进行的一系列检验。

3．7继续有效期

超期复验合格的元器件在规定的贮存环境条件下存放，其批质量能满足规定要求的期

限。

3．8筛选

在有效贮存期及继续有效期的元器件，在装机前应进行的检验。

4一般要求

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4．1贮存环境条件

4．1．1通用贮存环境条件

元器件应贮存在清洁、通风、无腐蚀性气体并有温度和相对湿度控制的场所。通用贮

存环境条件的分类见表1。

表1通用贮存环境条件的分类

分类代号温度（℃）相对湿度（%）

Ⅰ10~2525~70

Ⅱ-5~3020~75

注：中心库须满足Ⅰ类存储环境条件，各使用单位库房须满足Ⅱ贮存环境条件。

4．1．2特殊贮存环境条件

某些元器件的存放应满足以下特殊要求：

a）对静电放电敏感的元器件（如MOS器件、微波器件等），应按QJ1693的规定，

采取静电放电防护措施；

b）非密封片状元器件应存放在充有惰性气体的密封容器内，或存放在采取有效防氧

化措施（如加稀释剂、防氧化剂等）的密封容器内；

c）微电机等机电元器件的油封及单元包装应保持完整。

4．2贮存期的计算

从贮存起始日期至预定装机日期之间的时间为元器件的贮存期。贮存期的起始日期按

下列优先顺序确定：

a）按照元器件生产日期进行计算。若元器件的生产日期为日期或星期代码，则凡仅

有年月无日期的均按该月15日计算；若元器件的生产日期为