GBT14028-2018 半导体集成电路 模拟开关测试方法.pdf

ICS31.200

L56GB

11:

中华人民和国国家标准

J，、

GB/T14028-2018

代替GB/T140281992

半导体集成电路

模拟开关测试方法

Semiconductorintegratedcircuits-

Measuringmethodofanalogueswitch

2018-03-15发布2018-08-01实施

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局

发布

中国国家标准化管理委员会

GB/T14028-2018

目次

前言………………I

1范围－

2规班性引用文件…

3术语和定义…··

4总则…………2

4.1测试环境要求………………….2

4.2测试注意事项………………………3

4.3电参数符号……………3

5参数测试……………….4

5.1模拟电压工作范围（VA）……………4

5.2导通电阻（Ron）………………………5

5.3导通电阻路差（£illon)………………6

5.4截止态漏极漏电流口D(ofDJ••••••••••••••……·………….6

5.5截止态源极漏电流［JS(off)J•••••••••••••••••••••••………7

5.6导通态漏电流［IDS（时］….……………·……………….8

5.7开启时间（ton）………………………9

5.8关断时间U。ρ．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．……11

5.9通道转换时间（tT）…………………12

5.10最高控制频率Cfc川……………·….13

5.11截止态隔离度（KOIRR)……………14

5.12截止态馈通频率CJρ．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．…15

5.13导通态串扰衰减［ax(on)J……………….16

5.14输入串扰衰减［αxONlJ….17

5.15控制信号串扰CVcA）……………….18

5.16导通电阻路差率CRoN_Mat川…………….18

5.17导通电阻温度漂移率CRoN_D，川…·………….19

5.18通道转换无效输出时间（tOJn）……………………19

5.四电荷注入量（QIN!)