第八章 典型电子组件可靠性评价方案设计及案例.pdf

第八章典型电子组件可靠性主要内容

评价方案设计①可靠性试验概述

②电子组件可靠性筛选试验

③电子组件可靠性鉴定试验

④电子组件加速寿命试验

邱宝军⑤电子组件可靠性试验方案分析

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8.1可靠性试验概述可靠性试验的主要目的

为分析评价产品的可靠性而进行的试验叫可靠性试验。①保证出售产品的可靠性

包括：为提高产品可靠性（老炼和筛选）、考核产品可靠性②对新材料、工艺、器件、设计进行评价

（例行试验）、评价产品可靠性（寿命试验）和分析产品可靠③研究新的试验方法

性（失效分析试验）等可通称为可靠性试验。

④暴露使用中可能出现的不安全因素

试验原理：⑤研究预防故障发生的措施

模拟现场工作条件和环境条件，将各种工作没模式及环境应力⑥研究产品的失效规律

按照一定的时间比例，按一定的循环次数反复施加到受试样品

⑦为进行有效的可靠性管理提供依据

上，经过失效分析和处理，将得到的信息反馈到设计、制造、

材料和管理部门进行改进，以提高产品的故有可靠性。

消除早期缺陷电子组件常用的可靠性试验分类

降低成本

………1）为了排除早期缺陷而进行的可靠性筛选试验

DESIGNFOR失效位置、2）为了确定电子组件薄弱环节的失效分析试验

可靠性设计模式、机理

RELIABILITY可靠性试验3）为了确定电子组件寿命特征的可靠性寿命试验

数据验证

可靠性设计4）通过提高应力快速暴露问题的高加速应力试验

样品数量验证5）为了验证产品能否通过特定试验条件的可靠性

测试条件可靠性工程理解失效的鉴定试验

原因及如何提

测试周期RELIABILITYFAILURE高

失效获取ANALYSIS

TESTDATA失效分析选择合适的

可靠性试验

寿命分布ANALYSIS加速模型确定

可靠性函