T∕CASAS 005-2022 用于硬开关电路的氮化镓高电子迁移率晶体管动态导通电阻测试方法.pdf

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该文档主要介绍了用于硬开关电路的氮化镓高电子迁移率晶体管动态导通电阻测试的方法该方法采用了实验装置进行模拟测试，并对比了不同版本的晶体管研究者强调了采用当前技术路线和技术水平的重要性，以促进相关行业的发展

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团体标准

T/CASAS005-2022

用于硬开关电路的氮化稼高电子迁移率晶体

管动态导通电阻测试方法

Dynamicon-resistancetestmethodforGaNhigheIectronmobiIity

transistor(HEMT)inhard-switchingcircuits

版本：V01.00

2022-09-16发布2022-09-16实施

第三代半导体产业技术创新战略联盟发布

T/CASAS005-2022

前言·············…………....…………..……………··．．．．．”…....…………....…………....………….......III

I范围…………………··．．．．．”…....…………....…………....………….........I

2规范性引用文件.............I

3术语和定义·················……………··…………...…...…...…...….................………..I

4原理..............2

5测试条件······················….……··…………………·………...............................................3

7测试程序．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．………··……..4

7.2测试流程…………………·．．．．．．．”................…...…...…...…...…··…........5

8数据记录和l处理.............6

9试验报告·····································….......….......….......….......…·”………......

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