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ICT基本测试原理(FORTR-518F)

1.电阻测试原理:

1.1固定电流源(constantCurrent)模式(mode0)

对于不同的电阻值,ICT本身会自动限制一个适当的固定电流源做为测试的讯号源使用,如此才不会因

使用都的选择不当,因而产生过高的电压而烧坏被测元件,帮其测试方式为:提供一个适当的固定电流源I,流

经被测电阻R,再于被测电阻R两端,测量出Vr,由于Vr及I已知,利用Vr=IR公式,即可得知被测电阻R值.

RANGECurrent

欧姆1~299.99欧姆5mA

300欧姆~2.99K欧姆500uA

3K欧姆~29.99K欧姆50uA

30K欧姆~299.99K欧姆5uA

300K欧姆~2.99M欧姆0.5uA

3M欧姆~40M欧姆0.1uA

1.2低固定电流源(LowconstantCurrent)模式(mode1)

该测试方法和上述固定电流源模式一样,只是在被测电阻于电路上若有并联(Parallel)着二极体(Diode)或

IC保护二极体(ICClampingDiode)时,对于该电阻两端测量电压值若超过0.5V至0.7V左右时,因二极体导

电的关系,该电阻两端电压将被维持在0.5V~0.7V左右,固无法量测出真正的Vr值,为解决此问题,只要将原

先的电流源降低一级即可.

RANGECurrent

欧姆1~299.99欧姆500uA

300欧姆~2.99K欧姆50uA

3K欧姆~29.99K欧姆5uA

30K欧姆~299.99K欧姆0.5uA

300K欧姆~2.99M欧姆0.1uA

1.3快速(High-Speed)测试模式(MODE2)

假如被测电阻并联一个0.3uF以上的电容时,若使用上述固定电流源测试时,需要花费很长的时间,让电

容充饱电荷,再去测量出Vr值,而得知R值,如此测试方法将增加ICT测试时间,为解决此问题,可以将固定DC

电流源改为0.2VDC固定电压源,直接接于被测电阻两端,如此电容将会在短暂时间内使其Ic=0,故电路上所

有电流将流经电阻R.其测量方式为:提供一个0.2VDC电压源,当Ic=0时,再测试流经电阻两端的Ir,因为

V=IrR,而V及Ir已知,即可得知电阻R的值.

1.4交流相位(ACPhase)测试模式(MODE3,MODE4,MODE5)

由于电路设计关系,被测试电阻将会并联着电感等元件,对于此电阻值测量,若使用固定电流源方式测试,

电阻值将会偏低而无法测量出真正的电阻值,故使用AC电压源,利用相位角度的领先,及落后方式而得知被

测电阻值.故其测试方式为:提供一个适当频率的AC电压源V,同时在被测电阻两端测量出Iz,由于V=Iz*Zrl,

因为V及Iz已知,故可得知Zrl,又因为R=Zrl*cosθ,而Zrl及cosθ已知,故即可得知被测电阻R值.

SIGNALRANGE(L)RANGE(R)

1KHz600uH~60H5欧姆~300K欧姆

10KHz60uH~600mH5欧姆~40K欧姆

100KHz6uH~6mH5欧姆~4K欧姆

2.电容/电感测试原理:

2.1固定AC电压源(ConstantACVoltage)测试模式(MODE0,MODE1,MODE2,MODE3)

对于不同阻抗的电容或电感,ICT本身会自动选择一个适当频率(frequency)的AC电压源作为测试使用,

其频率计有:1KHz,10KHz,100KHz,1MHz,对于极小阻抗值的电容或电感将需要较高频率的AC电压源,再测

量被测元件两端的电压源,由于V=Ic*Z