第七章 非相干信号的光电变换与检测课件.pptVIP

光电检测技术71、单通道像空间分析器光亮法像分析器的特点定位基准是取样窗口，与像尺寸有严格的关系成像系统的像差小，照度均匀有线性的定位特性像分析器是幅度调制器件实现刻线位置（位移）向光通量的转化（G-O转换器）光电检测技术72、扫描调制式像分析器

静态光电显微镜为减少光源光强波动对定位精度的影响，采用扫描机制的方法将直流信号变为交流信号是一个好方法。图7-16是扫描调制式静态光电显微镜，与7-14相比增加了用于调制的振动反射镜6，从而实现了像在缝上做周期性扫描运动，使透过狭缝的光通量变成时间调制信号，再被狭缝实现幅度调制，最后由光电器件得到连续的幅度调制输出。光电检测技术7如何判断刻线中心是否对准了光轴？光电检测技术72、扫描调制式像分析器与静态光电显微镜设计要求照度均匀像差小狭缝精密振子稳定可调光电检测技术73、差动式像分析器

动态光电显微镜为减少光源波动对定位精度的影响，可进行差动设计。其基本结构如图7-19与静态光电显微镜的区别在运动状态中定位光电检测技术7如图可知若，特性近似为线性区，输出为：输出特性从上式可见，采用差动法，光源波动的影响将大为减小，并且线性区扩大一倍，曲线斜率也增加一倍。交流差动系统进一步提高稳定性光电检测技术7二、几何位置检测法用光电方法来确定目标物的几何位置，常用显微镜光学系统或投影光学系统、准直光学系统等将目标物成像，然后用一个和几何位置相关的指标线对成像轮廓进行瞄准，以确定物体的空间位置。如果指标线是：光学分划板，称为光学对准法；由光电检测器件的位置来确定，称为轮廓光电瞄准法；由计算机给出，称为电子指标线法；主要介绍的方法有：1、轮廓光电瞄准法2、电子指标线对准的CCD摄像装置3、轮廓像偏移的光焦点测量法光电检测技术71、轮廓光电描准法将物的轮廓成像到由光电检测器件组成的轮廓瞄准头上，由光电检测器件相对光轴的位置来确定物的空间几何位置。上图所示的系统，流过负载电阻RL的电流为：若IL=0，则对准；否则，偏离。光电池EF用于判向光电检测技术72、电子指标线对准的CCD摄像装置用CCD摄像法确定物体的几何位置，可用计算机生成各种电子指标线进行对准，如十字线、平行线、圆、圆弧等。标定对准光电检测技术73、轮廓像偏移的光焦点测量法像点轴上偏移光焦点法光轴上聚焦光斑的光密度分布像点轴外偏移光焦点法系统自对焦，成像范围较大光电检测技术71像点轴上偏移光焦点测量法什么是像点轴上光焦点测量法？（如下图）根据在像面附近设置像分析器的不同分为：1)光缝法2)刀口法3)像散法4)临界角法5)共焦显微镜法光电检测技术71)光缝法用光缝做像分析器2)刀口法光电检测技术73)像散法光电检测技术74)临界角法5)共焦显微镜法光电检测技术72像点轴外偏移光焦点法三角测量法光电检测技术7三、亮度中心检测法

光辐射的亮度分布沿空间的分布，当物体按辐射能量相等的标准将能量相等的标准能量分为两部分，其中心位置称为亮度中心。这样亮度中心位置xB0表示为，光电检测技术71、象限检测器法光电池二维PSD器件CCD器件光电检测技术72、象限分解法光电检测技术72、象限分解法光电检测技术7外差检测系统与直接检测系统性能比较光电转换功率增益滤波特性信噪比信息调制度系统结构光电检测技术7光电检测技术7光电检测技术7光电检测技术7光电检测技术7第七章非相干信号的光电变换与检测光电检测技术7目录??7-1光电信号变换与光电测量系统概述??7-2直接检测系统的工作原理??7-3随时间变化的光电信号变换与检测方法??7-4随空间变化的光电信号变换与检测方法光电信号的检测将光辐射束所携带的信息以电信号的形式检测出来的过程光电检测技术7??7-1光电信号变换与光电测量系统概述“光电变换”是指借助于几何光学、物理光学和光电子学的方法对信号进行变换，包括将一种光量转换为另一种光量，将非光量转换为光量或将连续光量转换为脉冲光量等。变换方法光学原理应用几何光学直进、