安徽省合肥市六校2023-2024学年高二下学期期末联考物理试卷(含答案).docxVIP

安徽省合肥市六校2023-2024学年高二下学期期末联考物理试卷

学校：___________姓名：___________班级：___________考号：___________

一、单选题

1．将静置在地面上，质量为M（含燃料）的火箭模型点火升空，在极短时间内以相对地面的速度竖直向下喷出质量为m的炽热气体。忽略喷气过程重力和空气阻力的影响，则喷气结束时火箭模型获得的速度大小是()

A. B. C. D.

2．宇宙射线进入地球大气层与大气作用会产生中子，中子与大气中的氮14会产生以下核反应：，产生的能自发进行β衰变，其半衰期为5730年，利用碳14的衰变规律可推断古木的年代。下列说法正确的是()

A.发生β衰变的产物是

B.β衰变辐射出的电子来自于碳原子的核外电子

C.近年来由于地球的温室效应，引起的半衰期发生微小变化

D.若测得一古木样品的含量为活体植物的，则该古木距今约为11460年

3．如图所示，一定质量的理想气体从状态a开始，沿图示路径先后到达状态b和c。下列说法正确的是()

A.从a到b，气体温度保持不变 B.从a到b，气体对外界做功

C.从b到c，气体内能减小 D.从b到c，气体从外界吸热

4．某金属在一束单色光的照射下发生光电效应，光电子的最大初动能为，已知该金属的逸出功为，普朗克常量为h。根据爱因斯坦的光电效应理论，该单色光的频率v为()

A. B. C. D.

5．如图所示，两个速度大小不同的同种带电粒子1、2，沿水平方向从同一点垂直射入匀强磁场中，磁场方向垂直纸面向里。当它们从磁场下边界飞出时相对入射方向的偏转角分别为90°、60°，则它们在磁场中运动的()

A.轨迹半径之比为1:2 B.速度之比为2:1

C.时间之比为2:3 D.周期之比为3:2

6．一质量为2kg的物块在合外力F的作用下从静止开始沿直线运动。F随时间t变化的图线如图所示，则()

A.时物块的速率为1m/s B.时物块的动量大小为2kg·m/s

C.时物块的动量大小为5kg·m/s D.时物块的速度为零

7．题图为伽利略设计的一种测温装置示意图，玻璃管的上端与导热良好的玻璃泡连通，下端插入水中，玻璃泡中封闭有一定量的空气.若玻璃管内水柱上升，则外界大气的变化可能是()

A.温度降低，压强增大 B.温度升高，压强不变

C.温度升高，压强减小 D.温度不变，压强减小

8．真空中两点电荷分别放在x轴上的O点和M点，两电荷连线上各点电势φ随x变化的关系如图所示，其中A、N两点的电势均为零，ND段中的C点电势最高，则下列说法正确的是()

A.两点电荷的电性相同

B.A点的电场强度为零

C.N点的电场强度大于C点的电场强度

D.质子从N点运动到C点的过程中电势能减小

二、多选题

9．一列简谐横波沿x轴传播，在时刻和时刻的波形分别如图中实线和虚线所示。已知处的质点在0~1s内运动的路程为4.5cm。下列说法正确的是()

A.波沿x轴正方向传播

B.波源振动周期为1.1s

C.波的传播速度大小为13m/s

D.时，处的质点沿y轴负方向运动

10．一群处于激发态的氢原子跃迁向外辐射出不同频率的光子，则()

A.需要向外吸收能量

B.共能放出6种不同频率的光子

C.向跃迁发出的光子频率最大

D.向跃迁发出的光子频率最大

三、计算题

11．如图，边长为a的正方形ABCD为一棱镜的横截面，M为AB边的中点。在截面所在平面内，一光线自M点射入棱镜，入射角为60°，经折射后在BC边的N点恰好发生全反射，反射光线从CD边的P点射出棱镜。求棱镜的折射率以及两点之间的距离。

12．如图所示，两根足够长的平行光滑金属导轨、间距，其电阻不计，两导轨及其构成的平面均与水平面成角，N、Q两端接有的电阻。一金属棒垂直导轨放置，两端与导轨始终有良好接触，已知的质量，电阻，整个装置处在垂直于导轨平面向上的匀强磁场中，磁感应强度大小。在平行于导轨向上的拉力作用下，以初速度沿导轨向上开始运动，可达到最大速度。运动过程中拉力的功率恒定不变，重力加速度。

（1）求拉力的功率P；

（2）开始运动后，经速度达到，此过程中克服安培力做功，求该过程中沿导轨的位移大小x。

13．如图，光滑的四分之一圆弧轨道PQ竖直放置，底端与一水平传送带相切，一质量的小物块a从圆弧轨道最高点P由静止释放，到最低点Q时与另一质量小物块b发生弹性正碰（碰撞时间极短）。已知圆弧轨道半径，传送带的长度，传送带以速度顺时针匀速转动，小物体与传送带间的动摩擦因数，。求

（1）碰撞前瞬间小物块a对圆弧轨道的压力大小；

（2）碰后小物块a能上升的最大高度；

（3）小物块b从传送带的左端运动到右端所需要的时间。

四、实验题

14．某学习小组利用如图甲所示的装置测量当