TGZGQ-有机发光二极管显示器表面云纹(Mura)缺陷量化方法及编制说明.pdf

团体标准

T/GZGQXXXX-2024

有机发光二极管显示器表面云纹

(Mura)缺陷量化方法

Organiclightemittingdiodedisplays–Quantitativeevaluation

methodsofsurfaceMura

征求意见稿

2024-XX-XX发布2024-XX-XX实施

XXXXXXXXXXXX发布

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目录

前言-4-

有机发光二极管显示器表面云纹(Mura)缺陷量化方法-5-

1.范围-5-

2.规范性引用文件-5-

3.术语和定义-5-

4.略缩语-6-

5.主观实验方法-6-

5.1概述-6-

5.2量化因素-7-

5.3限度样本选取实验-8-

5.4双刺激度对照实验-8-

6.多因素量化公式-8-

6.1概述-8-

6.2量化公式分析-8-

6.3结果表示-11-

7.量化神经网络-11-

7.1概述-11-

7.2后台业务系统-12-

8.量化结果验证-13-

8.1概述-13-

8.2评价指标-13-

8.3验证结果-13-

8.4对比实验结果-14-

附录A-15-

A.1概述-15-

A.2Mura缺陷类型-15-

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B.1概述-16-

B.2灰度值排序-17-

B.3双刺激度对照实验流程-17-

附录C（规范性附录）神经网络量化算法-19-

C.1神经网络量化算法流程-19-

C.2神经网络量化算法推荐使用参数-20-

-3-

前言

本标准按照GB/T1.1-2020给出的规则起草。

请注意本部分的某些内容可能涉及专利,本部分的发布机构不承担识别这些专利

的责任。

本标准由湖北省人工智能学会归口。

本标准主要起草单位：华中科技大学、武汉精测电子集团股份有限公司、武汉数

字化设计与制造创新中心有限公司。

本标准主要起草人：杨华、尹周平、郑增强、朱钦淼、刘天洋、唐斯昂、闻铭、

刘洒、林松、陈若愚。

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有机发光二极管显示器表面云纹(Mura)缺陷量化方法

1.范围

本文件规定了有机发光二极管显示器表面云纹(Mura)缺陷量化的分级标准及实验

条件、方法。

本文件主要适用于有机发光二极管显示器。

2.规范性引用文件

下列文件对于本文件的应用是必不