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实验报告(一)TTL集成逻辑门的逻辑功能与参数测试
1.测试TTL集成与非门74LS20的逻辑功能,测试结果记录如下表:
输入输出
AnBnCnDnYn
1111
0111
1011
1101
1110
2.74LS20主要参数的测试
IIIII
CCLCCHilOLN=OL
(mA)(mA)(mA)(mA)OIiL
3.电压传输特性测试
V(V)00.40.70.91.01.11.21.31.42.03.04.0…
i
V(V)
O
4.画出实测的电压传输特性曲线,并从中读出各有关参数值。
实验报告(二)CMOS电路
1.用所给的集成电路(CD4007)实现F=ABC,将实验结果填入真值表中,并测出高、低电平(真值表自
拟,测试步骤自拟)。
2.用所给的集成电路实现F=ABC(真值表自拟,测试步骤自拟)。
3.用所给的集成电路,构成图2-2反相器。
(a)测最大灌电流I(V=0.1V,接通图2-2中的虚线框①)。
OLOL
(b)测最大拉电流I(V=4.9V,断开虚线框①,接通虚线框②。
OHOH
4.构成如图2-3所示的反相器,测最大灌电流I。
OL
实验报告(三)组合逻辑电路实验分析与设计
(1)写出由与非门组成的半加器电路的逻辑表达式
(2)根据表达式列出真值表,并画出卡诺图判断能否简化
ABZ1Z2Z3SC
00
01
10
11
实验:
1.测试由与非门组成的半加器电路的逻辑功能
ABSC
00
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