数电实验报告4823.pdf

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实验报告(一)TTL集成逻辑门的逻辑功能与参数测试

1.测试TTL集成与非门74LS20的逻辑功能,测试结果记录如下表:

输入输出

AnBnCnDnYn

1111

0111

1011

1101

1110

2.74LS20主要参数的测试

IIIII

CCLCCHilOLN=OL

(mA)(mA)(mA)(mA)OIiL

3.电压传输特性测试

V(V)00.40.70.91.01.11.21.31.42.03.04.0…

i

V(V)

O

4.画出实测的电压传输特性曲线,并从中读出各有关参数值。

实验报告(二)CMOS电路

1.用所给的集成电路(CD4007)实现F=ABC,将实验结果填入真值表中,并测出高、低电平(真值表自

拟,测试步骤自拟)。

2.用所给的集成电路实现F=ABC(真值表自拟,测试步骤自拟)。

3.用所给的集成电路,构成图2-2反相器。

(a)测最大灌电流I(V=0.1V,接通图2-2中的虚线框①)。

OLOL

(b)测最大拉电流I(V=4.9V,断开虚线框①,接通虚线框②。

OHOH

4.构成如图2-3所示的反相器,测最大灌电流I。

OL

实验报告(三)组合逻辑电路实验分析与设计

(1)写出由与非门组成的半加器电路的逻辑表达式

(2)根据表达式列出真值表,并画出卡诺图判断能否简化

ABZ1Z2Z3SC

00

01

10

11

实验:

1.测试由与非门组成的半加器电路的逻辑功能

ABSC

00

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