课件正畸头影测量.pdf

  1. 1、本文档共45页,其中可免费阅读18页,需付费175金币后方可阅读剩余内容。
  2. 2、本文档内容版权归属内容提供方,所产生的收益全部归内容提供方所有。如果您对本文有版权争议,可选择认领,认领后既往收益都归您。
  3. 3、本文档由用户上传,本站不保证质量和数量令人满意,可能有诸多瑕疵,付费之前,请仔细先通过免费阅读内容等途径辨别内容交易风险。如存在严重挂羊头卖狗肉之情形,可联系本站下载客服投诉处理。
  4. 4、文档侵权举报电话:400-050-0827(电话支持时间:9:00-18:30)。
查看更多

X线头影测量学

CEPHALOMETRICS

大学华西口腔医学院

正畸教研室

目的AIMS

了解X线头颅侧位片的拍摄及描绘方法

熟悉常用标志点的定位,测量平面及测量项

目的组成及意义

定义DEFINITION

在利用头颅定位仪拍摄所得

的影像上,通过对牙颌、颅面

各标志点描绘出一定的线角进

量分析,从而了解其软硬

组织的结构;使对牙颌、颅面

的检查诊断从表面形态深入到

的骨骼结构中去。

发展史HISTORY

1

您可能关注的文档

文档评论(0)

159****9610 + 关注
实名认证
内容提供者

该用户很懒,什么也没介绍

版权声明书
用户编号:6044052142000020

1亿VIP精品文档

相关文档