材料现代分析测试方法复习.doc

XRDX射线衍射TEM透射电镜—ED电子衍射SEM扫描电子显微镜—EPMA电子探针（EDS能谱仪WPS波谱仪）XPSX射线光电子能谱分析AES原子发射光谱或俄歇电子能谱IR—FT—IR傅里叶变换红外光谱RAMAN拉曼光谱DTA差热分析法DSC差示扫描量热法TG热重分析STM扫描隧道显微镜AFM原子力显微镜

测微观形貌：TEM、SEM、EPMA、STM、AFM化学元素分析：EPMA、XPS、AES（原子和俄歇）

物质结构：远程结构（XRD、ED）、近程结构（RAMAN、IR）分子结构：RAMAN

官能团：IR表面结构：AES（俄歇）、XPS、STM、AFM

X射线的产生：高速运动着额电子突然受阻时，随着电子能量的消失和转化，就会产生X射线。产生条件：1.产生并发射自由电子；2.在真空中迫使电子朝一定方向加速运动，以获得尽可能高的速度；3.在高速电子流的运动路线上设置一障碍物（阳极靶），使高速运动的电子突然受阻而停止下来。

X射线荧光：入射的X射线光量子的能量足够大将原子内层电子击出，外层电子向内层跃迁，辐射出波长严格一定的X射线

俄歇电子产生：原子K层电子被击出，L层电子如L2电子像K层跃迁能量差不是以产生一个K系X射线光量子的形式释放，而是被临近的电子所吸收，使这个电子受激发而成为自由电子，即俄歇电子

14种布拉菲格子特征：立方晶系（等轴）a=b=cα=β=γ=90°；正方晶系（四方）a=b≠cα=β=γ=90°；斜方晶系（正交）a≠b≠cα=β=γ=90°；菱方晶系（三方）a=b=cα=β=γ≠90°；六方晶系a=b≠cα=β=90°γ=120°；单斜晶系a≠b≠cα=β=90°≠γ；三斜晶系a≠b≠cα≠β≠γ≠90°

布拉格方程的推导含义：线照射晶体时，只有相邻面网之间散射的X射线光程差为波长的整数倍时，才能产生干涉加强，形成衍射线，反之不能形成衍射线。

讨论

1.当一定，d相同的晶面，必然在相同的情况下才能获得反射。

2.当一定，d减小，就要增大，这说明间距小的晶面，其掠过角必须是较大的，否则它们的反射线无法加强，在考察多晶体衍射时，这点由为重要。

3.在任何可观测的衍射角下，产生衍射的条件为：，但波长过短导致衍射角过小，使衍射现象难以观测，常用X射线的波长范围是0.25~0.05nm。

4.波长一定时，只有的晶面才能发生衍射—衍射的极限条件。

X射线衍射方法：1.劳埃法，采用连续的X射线照射不动的单晶体，用垂直入射的平板底片记录衍射得到的劳埃斑点，多用于单晶取向测定及晶体对称性研究。2.转晶法：采用单色X射线照射转动的单晶体，并用一张以旋转轴为轴的圆筒形底片来记录，特点是入射线波长不变，靠旋转单晶体以连续改变个晶体与入射X射线的θ角来满足布拉格方程。转晶法可以确定晶体在旋转轴方向的点阵周期，确定晶体结构。3.粉末法，采用单色X射线照射多晶试样，利用多晶试样中各个微晶不同取向来改变θ角来满足布拉格方程。用于测定晶体结构，进行物相定性、定量分析，精确测量警惕的点阵参数以及材料的应力、织构、晶粒大小。

谢乐公式：说明了衍射线宽度与晶块在反射晶面法线方向上尺度成反比。利用这一公式可测定晶块大小。β半高宽，L晶面厚度

X射线衍射强度（严格定义）单位时间内通过衍射方向垂直单位面积上X射线光量子数目。表示方法：衍射峰高度或衍射峰积分面积。理论计算（P-多重性因数，F-结构因子，-因数）。

消光规律：

当H+K+L为偶数，F=2f；当H+K+L为奇数F=0.

在体心点阵中，只有当H+K+L为偶数时才产生衍射

CsCL结构消光：Cs（000）；Cl（1/22/21/2），当H+K+L为偶数当H+K+L为奇数

结论：CsCl属于简单立方，不存在系统消光，也不存在结构消光，但某些衍射峰加强，某些衍射峰减弱

质量符号标记：★为数据高度可靠；i为已指标化和估计强度，但可靠性不如前者；○为可靠性较差；无符号者表示一般；C为衍射数据来自计算

透射电镜工作原理及构造：原理：由电子枪发射出来的电子束，在真空通道中沿着镜体光轴穿越聚光镜，通过聚光镜将之会聚成一束尖细、明亮而又均匀的光斑，照射在样品室内的样品上；透过样品后的电子束携带有样品内部的结构信息经过物镜的会聚调焦和初级放大后的电子影像投射在荧光屏板上。构造：照相系统、成像系统、显像和记录系统、真空系统、供电系统。

电子在电磁透镜里的运动轨迹：圆锥螺旋曲线

Airy斑半径：β为孔