IC检验标准_原创文档.pdfVIP

目录

1.0目录…………………1

2.0目的…………………2

3.0范围…………...……2

4.0检验……………….…………...……2

4.1抽样标准………………….…….…………….…2

4.2缺陷定义………………….………….……….…2

4.3检验注意事项、工具制具仪器设备………….……..…………2

4.3.1….……………….……………….2

检验电子元器件防静电措施

4.3.…………….…….………….3

2湿度敏感组件的包装及验证确认

4.3.3.放大镜或显微镜确认IC表面的丝印………….4

4.4检验判定…….…………………..4

4.4.1包装………………………….4

4.4.2描述检查…………………….4

4.4.3料带检查…………...……..………………….4

4.4.4管装检查…………...……..………………….4

4.4.5………...……..………………….4

IC本体确认

4.4.6尺寸测量…………...……..………………….5

4.4.7电性能测试………...……..………………….5

4.4.8试装匹配.…………..……..………………….5

5.0参考文件..…...……..………..………….….……….5

6.0记录窗体..…...……..……………..…….……………….………….5

7.0附常见不良图片..…...……..………….……………….……………….………….5

2.0目的

本作业说明为IC进料检验提供检验标准。

3.0范围

适用于原材料敏感元器件(BGAIC二极管，三极)及其它特殊要求的组件。

4.0检验

4.1.抽样标准:

4.1.1.依《ANSI/ASQZ1.4-2008》标准实施

4.1.2.CRITICAL(致命):A.Q.L0

4.1.3.MAJOR(严重):A.Q.L0.25

4.1.3.MINOR(轻微):A.Q.L0.65

4.2缺陷定义:

4.2.1关键不合格(CR)：指对人的生命安全造成影响的明显或潜在不合格项目,不符合法律法规要求

的。

4.2.2严重不合格(MA)：指产品或过程的主要功能或部分功能不能实现的策划效果，及外观方面造成

客户不能接受或退货的不合格项目。

4.2.3轻微不合格(MI)：指某产品或过程的全部功能都能实现，及外观方面有轻微瑕疵，但是与预期

的策划要求有些轻微的背离。

4.3.检验注意事项、工具制具仪器设备使用:

4.3.1检验电子元器件时防静电措施：

外包裝检驗物料時防静电措施：

的防靜

電標識

1.来料包装袋上需有ESD警告标识。

2.检验工作台需防静电。