测量系统分析程序.docxVIP

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测量系统控制程序

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测量系统控制程序

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1.目的:

更好地了解变差的来源,确保使用场合的测量系统具备适宜的分辨和测量能力,使本公司测量系统评定的方法以及运作步骤和说明有所遵循。

2.范围:

适用于所有在控制计划中提到的,用于产品测试和测量中的测量系统;

3.定义:

3.1MSA:指MeasurementSystemsAnalysis(测量系统分析)的英文简称;

3.2测量系统:指用来对被测特性赋值的操作、程序、量具、设备、软件以及操作人员的集合;用来获得测量结果的整个过程;

3.3偏倚(准确度):指测量结果的观测平均值与基准值的差值;一个基准值可通过采用更高级别的测量设备(如:计量质量部或全尺寸检验设备)进行多次测量,取其平均值来确定;

3.4重复性:指由一个评价人,采用一种测量仪器,多次测量同一零件的同一特性时获得的测量值变差;

3.5再现性:指由不同的评价人,采用相同的测量仪器,测量同一零件的同一特性时测量平均值的变差;

3.6稳定性:指测量系统在某持续时间内测量同一基准或零件的单一性时获得的测量值总变差;

3.7线性:指在量具预期的工作范围内,偏倚值的差值;

4.职责:

4.1品质部:负责制定测量能力分析计划,实验室负责按计划实施执行。

4.2各相关部门配合实验室开展测量能力分析.

5.作业程序:

5.1测量系统分析时机

5.1.1顾客有要求时;

5.1.2采用新量具时(由使用部门提出);

5.1.3新项目试生产时(由研发部门提出);

5.1.4仪器修正后(由维修人员提出)。

5.2测量系统分析工作程序

5.2.1对顾客批准的控制计划中所提到的测量系统进行分析,并确定测量系统分析方案;

5.2.1.1确定评价所使用的方法,测量系统根据工作原理的不同可分为计量型和计数型测量系统,针对不同的分类运用与之相适应的计算分析方法;

5.2.1.2若顾客对评价方法有特殊要求,应采用顾客所要求的方法;

5.2.1.3若顾客对评价方法无特殊要求,对计量型测量系统采用极差法及均值极差法(重复性和再现性);计数型测量系统采用小样法;

5.3.测量系统分析方法

5.3.1偏倚:

5.3.1.1在精密测量设备上获得被测样件或标准器件的基准値。

5.3.1.2使用被研究的测量系统测量该样件或标准器件,次数应≧10,求出观测平均値。

5.3.1.3计算公式:偏倚=观测平均値-基准値

偏倚

过程変差

偏倚占过程変差百分比=×100%

5.3.1.4如果偏倚相对比较大,应分析其可能原因并作相应措施,可参考以下几方面:

标准或基准值误差,应检讨校准程序;

仪器磨损,应制定维护或重新修理计划;

制造的仪器尺寸不対时,应更换仪器;

测量了错误的特性时,应变更测量对象;

仪器校准不正确时,应复查校准方法;

评价人操作不当时,应复查检验说明书;

仪器修正计算不正确时,应重新计算。

5.4.1.5偏倚分析结果记入《偏倚分析》。

5.3.2稳定性

5.3.2.1由同一评价人在不同的时间内(时间间隔由品管部主管根据不同的测量系统而定)测量同一标准或标准样件来获取平均值和极差值。

5.3.2.2应用X-R控制图技朮画出标准或标准样件重复读数的平均值和极差图,看其是否有失去控制的信号,并通过估计测量过程随时间的变差,定量表示过程的稳定性。

5.3.2.3若X-R图失控则表明测量系统不稳定,其原因可能是:量具松动、磨损,这时,须対量具进行修理、校准。

5.3.2.4穏定性分析结果记入《穏定性分析》。

5.3.3线性

5.3.3.1在量具的工作范围内选择一组(5个以上)标准或标准样件,用此量具测每个标准或标准样件(10次以上)得均值,均值与标准或标准样件值(基准值X1、X2...Xn)之差为相应的偏移(Y1、Y2、...Yn),拟合方程式为:y=b+ax,在用偏移与不同基准值所求得的拟合直线斜率乘以标准或标准样件的过程变差代表量具的线性指数,线性指数=斜率a×过程变差,显然斜率a越小,量具的线性越好。

5.3.3.2若出现线性过大或非线性,其原因可能为:在工作范围上限和下限内量具没正

确校准、量具磨损、量具固有的设计特性,这时,须对量具进行修理、校准,若

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