英飞凌如何控制和保证基于SiC的功率半导体器件的可靠性.pdf

英飞凌如何控制和保证基于SiC的功率半导体器件的可靠性.pdf

  1. 1、本文档共43页,其中可免费阅读15页,需付费169金币后方可阅读剩余内容。
  2. 2、本文档内容版权归属内容提供方,所产生的收益全部归内容提供方所有。如果您对本文有版权争议,可选择认领,认领后既往收益都归您。
  3. 3、本文档由用户上传,本站不保证质量和数量令人满意,可能有诸多瑕疵,付费之前,请仔细先通过免费阅读内容等途径辨别内容交易风险。如存在严重挂羊头卖狗肉之情形,可联系本站下载客服投诉处理。
  4. 4、文档侵权举报电话:400-050-0827(电话支持时间:9:00-18:30)。
查看更多
英飞凌如何控制和保证基于SiC的功率半导体器件的可靠性

英飞凌如何控制和保证基于SiC的功率半导体器

件的可靠性

白皮书

07-2020

v1.0

英飞凌如何控制和保证基于SiC的功率半导体器件的可靠性

TableofContents

1引言3

2基于SiC的器件为何需要进行一些不同于硅器件的额外可靠性试验?

文档评论(0)

186****0576 + 关注
实名认证
内容提供者

该用户很懒,什么也没介绍

版权声明书
用户编号:5013000222000100

1亿VIP精品文档

相关文档