原子力显微镜AFM.ppt

原子力显微镜

Atomicforcemicroscopy，AFM;目录;1.概述;扫描探针显微镜(SPM)：

使用一个锋利的探针在样品外表扫描，在扫描过程中记录探针与样品的相互作用，从而得到样品的外表信息。;指标;1.2AFM主要功能;2.AFM的工作原理及工作模式;微悬臂微小形变的大小的检测方法有：

光学检测法

电容检测法

压敏电阻检测法等;2.2AFM的工作模式;2.2.1接触模式;a.高度像;c.侧向力像;2.2.2轻敲模式;a.高度像;(a);;2.2.3非接触模式;3.应用及实例解释;〔2〕粒径〔分布〕分析;〔3〕粗糙度分析;系统可以对图像进行自相关分析。相关运算用于比较两个图像的相似程度。自相关分析常用于分析带有周期性结构的图像，可以帮助寻找图像中的重复性结构。;图3.5原位AFM研究的拉抻台装置〔a〕和试样位置〔b〕;〔6〕针尖增强拉曼;受样品因素限制较大〔不可防止〕

针尖易磨钝受污染〔磨损无法修复；污染清洗困难〕

针尖—样品间作用力较小;谢谢！