半导体器件间歇工作寿命试验设备.pdfVIP

ICS17.040.30

CCSL87

T/

团体标准

T/XXXX2022—XXXX

半导体器件间歇工作寿命试验设备

Intermittentworkinglifetestequipmentforsemiconductor

integrateddevices

（征求意见稿）

2022-XX-XX发布2022-XX-XX

浙江省质量协会发布

T/ZACAXXXXX—2022

目次

前言II

1范围1

2规范性引用文件1

3术语和定义1

4基本参数2

5技术要求2

6试验方法4

7检验规则7

8标志、使用说明书、包装、运输和贮存8

I

T/ZACAXXXXX—2022

前言

本文件按照GB/T1.1—2020《标准化工作导则第1部分：标准化文件的结构和起草规则》的规定起

草。

请注意本文件的某些内容可能涉及专利。本文件的发布机构不承担识别这些专利的责任。

本文件由浙江省质量协会提出。

本文件由浙江省质量协会归口。

本文件主要起草单位：杭州高坤电子科技有限公司

本文件参与起草单位：

本文件主要起草人：

本标准首次发布。

II

T/ZACAXXXXX—2022

半导体器件间歇工作寿命试验设备

1范围

本文件规定了半导体集成电路间歇工作寿命试验设备（以下简称寿命试验设备）的术语和定义、基

本参数、技术要求、试验方法、检验规则、标志、使用说明书、包装、运输和贮存。

本文件适用于Si/SiC二极管、三极管、MOSFET/IGBT等器件的间歇工作寿命试验设备。

2规范性引用文件

下列文件中的内容通过文中的规范性引用而构成本文件必不可少的条款。其中，注日期的引用文件，

仅该日期对应的版本适用于本文件；不注日期的引用文件，其必威体育精装版版本（包括所有的修改单）适用于本

文件。

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GB/T17626.3电磁兼容性试验和测量技术射频电磁场辐射抗扰度试验

GB/T17626.4电磁兼容性试验和测量技术电快速瞬变脉冲群抗扰度试验

GB/T17626.5电磁兼容性试验和测量技术浪涌（冲击）抗扰度试验

GB/T17626.6电磁兼容性试验和测量技术射频场感应的传导骚扰抗扰度

GB/T17626.8电磁兼容性试验和测量技术工频磁场抗扰度试验

GB/T17626.11电磁兼容性试验和测量技术电压暂降、短时中断和电压变化的抗扰度试验