半导体制造工艺课件.pptxVIP

半导体制造工艺课件.pptx

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半導體製造工藝;矽製造;冶金級多晶矽

石英礦和碳加熱至2000℃,得到液態熔融矽

冷卻後形成由大量細小晶粒結合在一起的多晶矽

SiO2+2C?Si+2CO

半導體級多晶矽

冶金級矽與HCl氣體在高溫和催化劑下反應,生成三氯矽烷SiHCl3

三氯矽烷常溫下為液態,經蒸餾提純

用氫氣將純淨的三氯矽烷還原為多晶矽單質

SiHCl3+H2?Si+3HCl;Czochralski(CZ)工藝;晶體生長過程;矽錠;晶圓製造工序

切除矽錠兩端錐形頭

打磨矽錠至合適直徑

確定晶向,打磨晶向標記平面

切片,得到晶圓(Wafer)

拋光

倒角

晶向

晶圓表面方向決定了晶圓的很多特性

不同切割方向暴露出的原子結構不同,形成電子器件的電學特性也不同;晶圓成品;矽晶圓的解理特徵;光刻技術;澱積和刻蝕

大多數澱積和刻蝕工藝不具有選擇性

少數選擇性工藝的速度太慢或成本過於高昂

光刻

複雜圖形照相式的複製到晶圓表面

所得版式可以用於選擇性的阻擋澱積或刻蝕;光刻膠

一種光敏乳膠劑

對一定波長的光非常敏感

粘附於晶圓上形成均勻薄膜

溶劑蒸發並烘烤後變硬便於處理

正膠

曝光的正膠在紫外線下分解,變得可溶

未曝光的負膠在顯影液中不可溶

正膠使用更多

負膠

曝光的負膠在紫外線下聚合,變得不可溶

未曝光的負膠在特定溶劑中可溶;曝光簡圖;顯影劑

由有機溶劑的混合物組成

可溶解部分光刻膠

顯影

顯影劑溶解部分光刻膠,暴露出晶圓表面

澱積或刻蝕只能影響到暴露的區域

定影

用更具腐蝕性的溶劑混合物剝除光刻膠

或者在氧氣氛圍中採用反應離子刻蝕對光刻膠進行化學破壞

光刻膠不能作為能夠抵擋高溫的掩模層;氧化物生長和去除;二氧化矽的特性

能夠形成性能良好的二氧化矽

可以通過在氧化氣氛中簡單加熱生長

能夠抵抗大多數普通溶劑

易溶於氫氟酸溶液

極好的絕緣體

氧化工藝

幹法:在純淨乾燥的氧氣中加熱,速度緩慢,品質很高,用於器件

濕法:在氧氣混合水蒸氣中加熱,速度加快,品質降低,用於場氧化層

澱積:在非矽材料上形成二氧化矽,通過氣態矽化合物和氣態氧化劑反應值得,用於兩層導體之間的絕緣層或保護層;氧化爐簡圖;氧化物去除;濕法刻蝕

使用稀釋的氫氟酸溶液

幹法刻蝕

反應離子刻蝕(RIE)

等離子刻蝕

化學氣相刻蝕;反應離子刻蝕;對晶圓表面形貌的影響;;;;;擴散和離子注入;擴散工藝;磷擴散工藝;;;;;矽澱積和刻蝕;單晶矽

在暴露的單晶矽表面,可以澱積單晶矽薄膜

多晶矽

在氧化物或氮化物薄膜上,將形成多晶矽;低壓化學氣相澱積(LPCVD);N型埋層(NBL)的形成;矽介質隔離;;金屬化;;;;;;;;鋁的缺點

電阻比銅大,在亞微米工藝下表現明顯

電遷徙問題

銅的優點

導電性能好

提高抗電遷徙特性;;;組裝;;DIP-8線框簡圖;;塑模成形

修整引線

標記晶片型號、號碼、其他標識碼等

測試

包裝

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