LD-E 激光位移传感器.pdfVIP

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創變智造新未來

台達感測器系列

LD-E雷射位移計

雷射位移計LD-E系列

使用高解析CMOS感光元件,透過雷射三角量測原理,LD-E不需與

被測物體接觸,即可測量感測器與被測物之間的距離,以進行物體

位移與尺寸的量測。可應用於測量物體厚度及寬度,判斷高度、梯度、

位置、平面度、間隙與距離、以及偏擺。

•量測距離25mm~700mm,包含五種型號量測範圍

500±200mm、220±100mm、100±35mm、50±15mm、30±5mm

•支援數位I/O、Analog4~20mA、ModbusRS-485通訊

•線性度±0.1%~±0.3%

•體積小,節省空間;通過IP67測試,可耐用於各種環境

應用領域

電路板料件有無檢測疊料檢測電子零件正反面判斷

料件完整度檢查O型環有無檢查A接縫處檢測

1

產品特色

訊號數位化,易於整合與遠端管理

支援ModbusRS-485通訊介面,可將量測訊號以數位

方式輸出,搭配台達軟體UI(右圖)即時顯示輸出數據,

用戶亦可在遠端透過HMI或PC進行參數設定

精準的最高峰值成像取樣

台達獨家演算法,當有多重成像時,可自動擷取最高

峰值並轉換為量測距離,以找出正確的量測位置

1.5ms高速響應

1.5ms

響應速度最快可達1.5ms,並同時提供3種

響應速度設定,以配合不同物體檢測環境

(右圖為4~20mA輸出時,輸出響應為1.5ms)

2

產品特色

自動曝光時間調整,降低物體顏色影響

依照不同顏色的物體進行曝光時間控制,能將量測不同顏色物體時所造成的誤差降到最低

(如下圖,不管物體的反射率如何變化,接收的能量皆能控制在預期的範圍內)

接收能量皆能控制在預期的大小

反射率高反射率低

曝光時間短曝光時間長

曝光時間調整後

環境光干擾自動判斷功能

若檢測周圍有環境光進入感測器時,

感測器會自動判斷為環境光干擾,並

過濾掉環境光以避免誤判(右圖顯示

感測器判斷為環境光干擾而不輸出數據)

面板按鈕可快速進行參數設定,並支援七節顯示

3

產品規格

型號LD-030E-M22LD-050E-M22LD-100E-M22LD-220E-M22LD-500E-M22

檢測方式三角量測式

測量中心距離(mm)3050100220500

測量範圍(mm)±5±15±35±100±200

×××××

光點直徑(中心位置)約100100µm約8070

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