TCSTM-涂层缺陷检测 超声显微C扫描法.pdf

ICS19.100

J04

团体标准

T/CSTMXXXXX202X

—

涂层缺陷检测

超声显微C扫描法

Coatingdefecttesting

–UltrasonicmicroscopeC-scanmethod

202X-XX-XX发布202X-XX-XX实施

中关村材料试验技术联盟发布

T/CSTMXXXXX—2020

目录

1范围…………………1

2规范性引用文件……………………1

3术语和定义…………………1

4方法原理…………………3

5人员要求…………………4

6检测设备和器材………4

7对比试块……………5

8校准灵敏度…………5

9检测方法……………6

10孔隙率计算……………7

11缺陷评价……………8

12检测报告……………9

附录A(规范性)对比试块制作要求…………………10

附录B(资料性)探头选择……………12

附录C(资料性)盐雾试验与涂层内部缺陷的对应关系……………14

附录D(资料性)100MHz探头基准灵敏度标定……18

附录E(资料性)检测实例……………20

附录F(资料性)涂层差异性说明……………………21

附录G(资料性)电位法检测结果……………………23

附录H(资料性)本文件起草单位和起草人…………24

I

T/CSTMXXXXX—2020

前  言

本文件参照GB/T1.1—2020《标准化工作导则第1部分：标准化文件的结构和起草规则》，GB/T20001.4-

2015《标准编写规则第4部分：试验方法标准》的规定起草。

请注意本文件的某些内容可能涉及专利。本文件的发布机构不承担识别专利的责任。

本文件由中国材料与试验团体标准委员会综合标准领域委员会(CSTM/FC99）提出。

本文件由中国材料与试验团体标准委员会综合标准领域委员会(CSTM/FC99）归口。