PSP个人软件过程试题(附答案).pdfVIP

1.

答：在两个日志的头部分有关于项目的一些通用信息；

时间日志（TimeRecordingLog）：时间日志用来记录时间数据。关于时间数据需要填写

的内容有：

Phase：选择你正在工作的这条时间记录是属于哪个阶段。

Start:：记录你开始工作的日期时间。双击即可在工具中输入现在的日期和时间。

Int.：以分钟为单位输入中断时间。

Stop:：记录你结束工作的日期时间。双击即可在工具中输入现在的日期和时间。

DeltaTime：该条记录的合计时间，将被自动计算。

Comments：用于描述中断，你正在做的任务或者其他任何对你的工作有显著影响的事

情。

缺陷日志（DefectRecordingLog）：缺陷日志用来记录时间数据。关于缺陷数据需要填

写的内容有：

Type：记录缺陷类型，该缺陷类型为缺陷类型标准中定义的十种缺陷类型之一。

Date：记录发现该缺陷的日期时间。双击输入现在的日期时间。

PhaseInjected：选择或者输入你判断该缺陷是在哪个阶段引入的。

PhaseRemoved：记录你发现并修复该缺陷的阶段。

Fixtime：记录你找到和修复该缺陷总计花费的时间。你可以精确计时，或者使用你的

最佳估计值。

Fixdefect：如果这个缺陷是在修复另一个缺陷时引入的，记录那个缺陷的编号。

Description：记录有关缺陷是什么的解释（不是解释症状，是解释这个缺陷的根本原因！）

2.

答：·Yield、A/FR、PQI（ProcessQualityIndex）。

Yield：Phaseyield度量产品中某阶段发现和移除的缺陷的百分比。

Yield能用于度量设计和编码复审，审查，编译以及测试的有效性。

计算式如下：Yield(foraphase)=100*(defectsfound)/(defectsfound+notfound)

Processyield是在这个阶段之前引入的缺陷isthepercentageofdefectsinjectedbeforea

phasethatwerefoundbeforethatphase.。例如，系统测试之前的yield是系统测试的

processyield当不带阶段名使用时，processyield指的是在编译和测试之前的phaseyield。

Yield可以用来估算但是直到已经通过测试和产品使用找到所有缺陷后才能准确计算。

Yield度量在开发者和测试者记录所有缺陷的时候最有用。designandcodereview

defects,compiledefects,testdefects通过使用过程控制度量，你更可能进行高yield

（high-yield）的复审

A/FR（Appraisaltofailureratio）：A/FR=(appraisalCOQ)/(failureCOQ)

A/FR经验：A/FR度量是与项目相关的；对于PSP练习，A/FR的目标是2.0或更高。

高A/FR与测试缺陷的数量少以及高产品质量相关。项目应当基于估算的无缺陷测试次

数设置A/FR目标。由于提到A/FR，这里必须解释一下COQ（CostofQuality）。

COQ度量以一种对于管理有意义的方式处理质量。COQ元素是failure,appraisal和

preventioncosts.Failurecost是花在修复和返工上的时间加上所有小块时间。在PSP

中，即为编译和测试时间。Appraisalcosts是为发现缺陷所做的审查花费。在PSP中

就是设计和编码复审时间。Defect-preventioncost是识别和解释缺陷原因的时间。

通常在小组或团体中完成，并由其中一名支持部门成员完成。对于PSPdefectprevention

行为包括收集缺陷数据，改善设计手段和原型。

3.

答：PSP总共有6个向上兼容的级别，分别是PSP0、PSP0.1、PSP1、PSP1.1、PSP2和

PSP2.1。

各个level的主要内容如下：

PSP0：该级别你建立一个度量表现的基线。（Youestablish