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BESIIIEMC电子学系统由前放.pptxVIP

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    EMC电子学系统BESIIIEMC电子学系统由前放、主放、Q插件、测试控制器、扇出插件等部分组成。前放设计采取了若干低噪声技术和抗干扰办法，对探测器输出微弱信号进行放大，确保了后端电荷测量精度;电荷测量采取分三个量程数字化方法实现15bit动态范围；采取FPGA来完成数据缓存、预处理，提升系统集成度、增加了数据处理并行度灵活性经过了三次束流测试和384通道小系统长时间测试证实，EMC电子学系统已经到达或超出预定设计指标第1页

    BESⅢEMC电子学系统主要功效是测量电荷量，从而确定粒子在CsI晶体中能量损失，同时给出粗略粒子击中晶体时间信息。另外一个主要任务是向触发判选系统提供晶体能量信息作为事例筛选依据之一。EMC电子学系统设计框图第2页

    安装EMC电子学系统前放第3页

    EMC电子学系统主放和电荷测量插件第4页

    EMC电子学384通道测试系统第5页

    EMC与在线系统联合测试第6页

    安装在晶体上前放和电缆第7页

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