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磁性涂层测厚仪测量影响因素

磁性涂层测厚仪是较新研发的新产品，是一种小型便携式仪器，

磁性测厚仪也称涂层测厚仪、镀层测厚仪、涂镀层测厚仪，在实在

实施测量时的影响因素紧要有如下21条。

1、基体金属磁性变化。为了避开热处理、冷加工等因素的影响，

应使用与镀件金属具有相同性质的铁基片上对仪器进行校对。

2、测量基体金属厚度，基体金属有确定临界厚度，超过厚度测

量就不受基体厚度的影响。

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3、边缘效应，在靠近试片边缘或内转角处进行测量是不的，校

对试片尽量在试片中心以削减误差。

4、测量件曲率，试件的曲率对测量有影响，这种影响是随着曲

率半径减小明显增大。因此不应在试件超过允许的曲率半径的弯曲

面上测量。

5、被测物体表面粗糙度，基体金属和表面粗糙度对测量有影响。

粗糙度增大，影响增大。粗糙表面会引起系统误差和偶然误差。每

次测量时，在不同位置上加添测量的次数，克服这种偶然误差。假

如基体金属粗糙还必需在未涂覆的粗糙相像佛的基体金属试件上取

几个位置校对仪器的零点；或用没有腐蚀性的溶液除去在基体金属

上的覆盖层，再校对仪器零点。

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6、磁场，被测物体四周磁场会干扰磁性测量，影响涂层测厚仪

精度。

7、附着物质，本仪器对那些阻拦探头与覆盖层表面紧密接触的

附着物质敏感。因此必需清除附着物质，以保证探头与覆盖层表面

直接接触。

8、测量过程中探头的放置，探头的放置方式对测量有影响，在

测量中使探头与试样表面保持垂直。这是涂层测厚仪（其他测厚仪，

如超声波测厚仪也是这样）测量中要注意的问题。

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9、试片的变形及试片本身的误差，探头使软覆盖层试件变形，

因此在这些试件上会显现确定的误差。

10、测量次数，对于数据要求经度比较高的测量要实行多次测

量求平均值，精度要求更高的可以多台仪器测量求平均值。

11、基体金属磁性质

磁性法测厚受基体金属磁性变化的影响（在实际应用中，低碳

钢磁性的变化可以认为是细小的），为了避开热处理和冷加工因素

的影响，应使用与试件基体金属具有相同性质的标准片对涂层测厚

仪进行校准；亦可用待涂覆试件进行校准。

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12、基体金属电性质

基体金属的电导率对测量有影响，而基体金属的电导率与其材

料成分及热处理方法有关。使用与试件基体金属具有相同性质的标

准片对涂层测厚仪进行校准。

13、基体金属厚度

每一种仪器都有一个基体金属的临界厚度。大于这个厚度，测

量就不受基体金属厚度的影响。本仪器的临界厚度值见附表

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14、边缘效应

涂层测厚仪对试件表面形状的陡变敏感。因此在靠近试件边缘

或内转角处进行测量是不牢靠的。

15、曲率

试件的曲率对测量有影响。这种影响总是随着曲率半径的削减

明显地增大。因此，在弯曲试件的表面上测量是不牢靠的。

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16、试件的变形

测头会使软覆盖层试件变形，因此在这些试件上测出牢靠的数

据。

17、表面粗糙度

基体金属和覆盖层的表面粗糙程度对测量有影响。粗糙程度增

大，影响增大。粗糙表面会引起系统误差和偶然误差，每次测量时，

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在不同位置上应加添测量的次数，以克服这种偶然误差。假如基体

金属粗糙，还必需在未涂覆的粗糙度相像佛的基体金属试件上取几

个位置校对仪器的零点；或用对基体金属没有腐蚀的溶液溶解除去

覆盖层后，再校对仪器的零点。

18、磁场

四周各种电气设备所产生的强磁场，会严重地干扰磁性法测厚

工作。

19、附着物质

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涂层测厚仪对那些阻拦测头与覆盖层表面紧密接触的附着物