紫外成像检测技术ppt.pptx

紫外成像带电检测技术

主要内容

紫外检测技术原理

紫外检测技术的应用

影响紫外检测的主要因素

现场检测

数据分析

紫外成像仪现场测试实例及分析

结论与展望

概述

紫外放电检测技术可以检测电力设备电晕放电和表面局部放电特征，以及外绝缘状态和污秽程度，与现时普遍使用的红外成像检测技术形成有效的互补。高压导体粗糙的表面、

终端锐角区域、绝缘层表面污秽区、高压套管及导体终端绝缘处理不良处，以及断股高压导线、压接不良导线、残缺的绝缘体、破损的瓷瓶和绝缘子等有绝缘缺陷的电气设备，在高电压运行时，会因为电场集中而发生电晕放电，出现可听噪声、

无线电干扰和电能损失等故障，对环境和设备运行产生一定的影响。因此，适度控制电晕效应，对发展特高压输电非常重要

当电气设备周围的电场强度达到某一临界值时，就可能

发生电晕，该临界值称为起晕电场强度。电气设备发生电晕时，其周围空气将发生电离，在电离的过程中，空气分子中的电子不断从电场中获得能量，当电子从激励态轨道返回原来的稳态电子能轨道时，就以电晕、火花放电等形式释放能量，此时，会辐射出含有紫外线成份的光波。

紫外检测技术原理

1.1电晕放电

1.2检测原理

以紫外成像技术进行电量放电检测，是利用特殊的仪器接收电晕放电产生的信号，经处理后成像并与可见光图像叠加，达到确定电晕的位置和强度的目的，为电气设备的状态检测提供依据。紫外线的波长范围是10nm～400nm。太阳光中也含有紫外线，但由于地球的臭氧层吸收了部分波长的分量，实际上辐射到地面上的太阳紫外光谱都在300nm以上，低于300nm的波长区域称为太阳盲区。高压设备放电产生的紫外线大部分在280nm～400nm内，也有少部分波长在230nm~280nm内，探测这部分波长的紫外线，可作为判断设备故障的依据。

#紫外通道检测电晕

可见光通道显示周围环境

#合成图像可让你找到电晕位置

紫外光束分

离器

紫外太阳盲滤

可

见

光见光相机镜

外相机

影像混合

CCD相机

1.3紫外成像的原理图

头紫外镜头

最后影像

光

双通道合成影像

250kV

合成影像

紫外通道

凡是有外部放电的地方都能用紫外成像仪观

察电晕，其检测应用范围大致有导线外伤探测、

高压设备污染检查、绝缘缺陷检测、绝缘子放电检测、寻找无线电干扰源等几方面。

紫外检测技术的应用

导线运输和施工过程中的

损伤，运行过程中外部损伤、

老化、断股、散股等均可利用紫外成像仪进行检测。缺陷位置及其附近的电场强度变强，在满足一定条件时会产生电晕,用紫外成像技术可轻松地检测到。

2.1导线外伤探测

污染物通常引起高压设备表面粗糙，在一定的电压条件下会产生放电。导线的污秽程度及绝缘子上污染物的分布情况等，都可以利用紫外检测技术进行分析。

2.2高压设备污染的检查

在对试品进行电气耐压

试验时，用紫外成像仪进行绝缘缺陷观祭。若在试验时发生闪络，则说明试品肯定不合格；若观祭到电晕，则可以根据试品的材料、结构形状、使用情况来综合评估是否有绝缘缺陷或缺陷的严重程度。

2.3绝缘缺陷检测

2.4绝缘子放电

检测

劣化积污导致盐密(衡量绝缘子表面污秽导电能力大小的主要参数)过大，在一定条件下会放电，单纯的绝缘子劣化也会产生电晕。利用紫外成像技术在一定灵敏度和一定距离下可以观测到放电现象，便于对劣化绝缘子进行定位、定性并评估其危害性。

2.5寻找无线

电干扰源

高压设备的放电会产生无线电干扰，严重时会影响到附近的通信和电视信号的接收等，使用紫外成像技术可迅速找到干扰源.

影响紫外检测的主要因素

统计紫外检测仪在检测中得到的紫外光子数可以作为被检测对象发生电晕的强度指标。紫外光子计数值受到许多因素的影响，检测距离、大气的湿度、温度、气压、海拔、仪器的增益等，都直接影响到光子计数器的读数

3.1距离的影响

检测距离对检测结果有明显的影响。当检测距离增加时，其视场角将减小，相应地灵敏度也随之降低。

湿度增大，起晕电场强度会降低。由于湿度增加使

绝缘子表面导电能力增强，放电脉冲数上升，绝缘子串的放电现象也会增多。(大气湿度增大时会吸收更多的紫外光，使紫外检测效果降低。由此可知，湿度的影响因素比较复杂。湿度增加是否有利于紫外检测，尚需要具体分析和判断。)

正常绝缘子存在污秽时，其放电次数受表面湿度影响相当大。在相对湿度大于95%的潮湿情况下，放电次数多于绝缘子串的低值绝缘子的放电次数；但在干燥的状态(相对湿度小于75%)下，情况则相反。因此，污秽因

素是通过湿度因素而发挥作用的。

3.2湿度与污的影响

秽

3